[发明专利]电子部件的测试装置用部件及该电子部件的测试方法

权利要求书

1.一种电子部件的测试装置用部件，包括：

测试板；

突出电极，其设置在该测试板的主表面上；

定位部，其设置在该测试板的主表面上，该定位部构造为定位该电子部 件；及

按压部，其构造为按压由该定位部定位的电子部件，并使得该电子部件 的引线部与该突出电极接触，从而该引线部发生弹性变形并与该突出电极接 触，该引线部设置在所述电子部件的两个侧表面上，该突出电极形成在彼此 面对的两个接触板上并沿该电子部件的纵向设置在该测试板上。

2.如权利要求1所述的电子部件的测试装置用部件，其中，该突出电极 设置于该接触板的基座件的外周面上。

3.如权利要求1所述的电子部件的测试装置用部件，其中，该突出电极 形成在设置于该测试板上的片状部件上。

4.如权利要求1所述的电子部件的测试装置用部件，其中，

在装配于该测试板上的电子部件下方设置有间隔件；

该间隔件的上表面与该电子部件的主体的下表面之间形成有间隙；及

该间隙处于这样的范围内，即，即便在按压状态下，该引线部的变形仍 为弹性变形，其中在该按压状态下，通过对该电子部件的按压，使该电子部 件的主体的下表面与该间隔件的上表面接触。

5.如权利要求1所述的电子部件的测试装置用部件，其中，该定位部设 置于该测试板上，并包括挡块体。

6.如权利要求1所述的电子部件的测试装置用部件，其中，该定位部为 形成在该测试板中的凹部。

7.如权利要求1所述的电子部件的测试装置用部件，其中，该突出电极 形成在一阶梯部的底面上，该阶梯部形成在设置于该测试板上的接触板中。

8.如权利要求1所述的电子部件的测试装置用部件，其中，在该突出电 极中形成有作为该定位部的凹部。

9.如权利要求2所述的电子部件的测试装置用部件，其中，

在该接触板的基座件的外周面上形成有第一导电层；

在该第一导电层上形成有第二导电层；及

该突出电极包括该第一导电层和该第二导电层。

10.如权利要求2所述的电子部件的测试装置用部件，其中，

在该接触板的基座件的外周面上形成有第一导电层；及

在该第一导电层上形成有凸形电极。

11.如权利要求1所述的电子部件的测试装置用部件，其中，该测试板用 于测试该电子部件的电气性能。

12.如权利要求1所述的电子部件的测试装置用部件，其中，该测试板为 烧机板。

13.一种电子部件的测试方法，包括：

在测试板上装配引线框，其中多个电子部件结合于该引线框；

按压结合于该引线框的所述电子部件，使得所述电子部件的引线部与突 出电极接触，从而该引线部发生弹性变形并与该突出电极接触，该引线部设 置在所述电子部件的两个侧表面上，该突出电极形成在彼此面对的两个接触 板上并沿该电子部件的纵向设置在该测试板上；及

经由该突出电极进行该电子部件的电气测试。

14.如权利要求13所述的电子部件的测试方法，其中，该引线部与该突 出电极在按压状态下接触，在该按压状态该引线部倾斜地抵靠该突出电极。

15.如权利要求14所述的电子部件的测试方法，其中，将多个电子部件 通过支撑杆结合于该引线框。

16.如权利要求13所述的电子部件的测试方法，还包括：在将该引线框 装配于该测试板上之前，从该引线框切除该引线部的端部。

17.如权利要求13所述的电子部件的测试方法，其中，当按压该电子部 件时，该电子部件的主体与设置在该电子部件的主体下方的间隔件接触，从 而将该引线部的变形限制在弹性变形的范围内。