[发明专利]用于基板的双面溅射蚀刻的系统和方法有效
| 申请号: | 200880119425.7 | 申请日: | 2008-12-05 |
| 公开(公告)号: | CN101889101A | 公开(公告)日: | 2010-11-17 |
| 发明(设计)人: | M·S.·巴尔内斯;T·布卢克 | 申请(专利权)人: | 因特瓦克公司 |
| 主分类号: | C23C14/00 | 分类号: | C23C14/00 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 柴丽敏;于辉 |
| 地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 本发明提供一种用于蚀刻图案化的介质盘片的系统。可动的非接触电极被利用来执行溅射蚀刻。电极移动到几乎接触的距离但是并未接触基板以将RF能量耦合到盘片。待蚀刻的材料可以是金属,例如Co、Pt、Cr或类似金属。基板竖直保持在承载器中并且两个侧面顺次被蚀刻。也就是,一个侧面在一个腔室中被蚀刻,然后在下一腔室中第二侧面被蚀刻。隔离阀布置在两个腔室之间,盘片承载器在腔室之间移动盘片。承载器可以是利用例如磁化轮和直线电机的线性驱动承载器。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 双面 溅射 蚀刻 系统 方法 | ||
【主权项】:
用于盘片蚀刻腔室的可动电极,其包括:可动支撑部;耦接到所述可动支撑部的运动组件;具有暴露表面的传导电极;以及设置在所述电极周围并露出所述电极的所述暴露表面的电极盖。
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