[发明专利]用于存储器的动态电压调节有效
申请号: | 200880024536.X | 申请日: | 2008-05-28 |
公开(公告)号: | CN101743598A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | Q·A·奎莱施;S·达瓦尔;托马斯·朱 | 申请(专利权)人: | 飞思卡尔半导体公司 |
主分类号: | G11C16/06 | 分类号: | G11C16/06 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 刘倜 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 在操作集成电路(10)上的存储器(14)的过程中动态调节该存储器的电源电压。该存储器的操作包括以电源电压(VDD1)向该存储器供电。在操作该存储器的同时向该集成电路的测试存储器(16)供电。该测试存储器和该存储器每一均包括第一比特单元配置类型的比特单元。在操作该存储器时,基于对该测试存储器的测试,调节(30)电源电压的电压电平。通过外部变化调节该电压电平以采用保证该存储器操作不会失败而且准确地使该电源电压最小化的值。该系统和方法可通过任何类型的存储器实现。该存储器(14)和测试存储器(16)可在物理上被实现为分立的或者散置在该集成电路上。 | ||
搜索关键词: | 用于 存储器 动态 电压 调节 | ||
【主权项】:
一种向存储器供电的方法,包括:操作集成电路的存储器,所述操作存储器包括以电源电压向所述存储器供电;在操作所述存储器的同时测试所述集成电路的测试存储器,所述测试存储器和所述存储器每一均包括第一比特单元配置类型的比特单元;和在操作所述存储器的同时,基于对所述测试存储器的测试,调节所述电源电压的电压电平。
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