[发明专利]用于存储器的动态电压调节

权利要求书

1.一种向存储器供电的方法，包括：

操作集成电路的存储器，所述操作存储器包括以电源电压向所 述存储器供电；

在操作所述存储器的同时测试所述集成电路的测试存储器，所 述测试存储器和所述存储器每一均包括第一比特单元配置类型的比特 单元；和

在操作所述存储器的同时，基于对所述测试存储器的测试，调 节所述电源电压的电压电平。

2.如权利要求1所述的方法，其中：

所述测试包括确定其中所述测试存储器通过测试的用于向所述 测试存储器供电的最小电压电平；并且

所述调节包括以基于确定最小电压电平的电压电平提供所述电 源电压。

3.如权利要求1所述的方法，其中测试所述测试存储器包括：

在以多个电压电平向所述测试存储器供电的同时测试所述测试 存储器；和

确定所述多个电压电平中的所述测试存储器测试失败的最高电 压电平。

4.如权利要求3所述的方法，其中：

所述调节包括将所述电源电压调节到高于所述最高电压电平的 电压电平。

5.如权利要求3所述的方法，其中以比所述电源电压的电压电 平小预定量的电压电平向所述测试存储器供电，其中在以多个电压电 平向所述测试存储器供电的过程中，以多个电压电平向所述存储器供 电。

6.如权利要求1所述的方法，其中所述测试包括：

将数据模式写入所述测试存储器；

自所述测试存储器读取数据单元；和

将所述数据模式与所述数据单元比较。

7.一种向存储器供电的方法，包括：

以操作电压电平向集成电路的存储器供电并操作所述集成电路 的存储器；

在操作所述存储器的同时第一次测试所述集成电路的测试存储 器，所述测试存储器和所述存储器每一均包括第一比特单元配置类型 的比特单元；

基于所述第一次测试将所述操作电压电平调节到第一调节操作 电压电平；

在第一次调节之后以所述第一调节操作电压电平向所述存储器 供电并操作所述存储器；

在操作所述存储器的同时第二次测试所述测试存储器；

基于所述第二次测试将所述第一调节操作电压电平调节到第二 调节操作电压电平；和

在调节所述第一调节操作电压电平之后以所述第二调节操作电 压电平向所述存储器供电并操作所述存储器。

8.如权利要求7所述的方法，其中：

所述第一次测试包括以基于所述操作电压电平的第一测试电压 电平向所述测试存储器供电；并且

所述第二次测试包括以基于所述第一调节操作电压电平的第二 测试电压电平向所述测试存储器供电。

9.如权利要求8所述的方法，其中：

所述第一测试电压电平比所述操作电压电平小预定量；并且

所述第二测试电压电平比所述第一调节操作电压电平小所述预 定量。

10.如权利要求7所述的方法，其中：

如果所述第一次测试指示失败，则所述第一次调节包括使所述 操作电压电平增加到所述第一调节操作电压，其中所述第一调节操作 电压电平大于所述操作电压电平。

11.如权利要求7所述的方法，其中：

如果所述第一次测试未指示失败，则所述第一次调节包括使所 述操作电压电平减小到所述第一调节操作电压，其中所述第一调节操 作电压电平小于所述操作电压电平。