[发明专利]采用硼掺杂在金刚石表面制备半导体导电膜的方法无效

专利信息
申请号: 200810249725.9 申请日: 2008-12-30
公开(公告)号: CN101447418A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 李西勤 申请(专利权)人: 山东泉舜科技有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/3205;H01L21/31;H01L21/205;C23C16/54;C23C16/52
代理公司: 山东济南齐鲁科技专利事务所有限公司 代理人: 宋永丽
地址: 250101山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种采用硼掺杂在金刚石表面制备半导体导电膜的方法,本发明的方法可简称微波法,是采用磁波能量激发反应气体,由于是无极放电,使等离子体纯净,同时微波放电区集中而不扩展,能够激活产生各种原子基团,如原子氢等,产生的离子的最大动能低,不腐蚀已生成的金刚石,使金刚石表面的粗糙度有较大改进,本发明方法中的微波功率连续平缓,能使沉积温度连续稳定变化,本发明的方法能够在沉积过程中产生大面积稳定的等离子体球,从而有利于大面积、均匀沉积金刚石半导体导电膜,用本发明方法能够实现在直径为5-7.62厘米金刚石表面上制做半导体导电膜,为金刚石器件在工业应用,特别是航空、国防上的应用,提供了可靠的工业实用性。
搜索关键词: 采用 掺杂 金刚石 表面 制备 半导体 导电 方法
【主权项】:
1、采用硼掺杂在金刚石表面制备半导体导电膜的方法,其特征在于:包括以下步骤:①采用丙酮有机溶机对金刚石基片清洗;②清洗后的基片放入CVD设备的反应室内;③反应室抽空至10-4Torr;④对基片加热至500—800℃;⑤反应室通入CH4气体,对基片进行氢等离子处理,气体流量为10—200ml/min,通入时间为3—5分钟,之后关掉气源;⑥反应室再次抽真空至10-4Torr;⑦反应室通入H2气体和CH4气体,H2气体流量为10—50ml/min,CH4气体流量为30—300ml/min;⑧步骤⑦所述气体通气1—2分钟后,开启微波电源,在基片上进行半绝缘膜沉积,微波功率为3000—5000W,半绝缘膜的沉积速率为0.01—0.1μm/min,沉积时间为10—100分钟,半绝缘膜的厚度达到0.5—5微米后关闭微波电源;⑨再对反应室通入BCl3或B2H6气体,该气体流量为10—100ml/min;⑩步骤⑨所述气体通气1—2分钟后开启微波电源,在基片的半绝缘膜上进行导电膜沉积,微波功率为3000—5000W;导电膜沉积速率为0.01—0.1μm/min,沉积时间为5—50分钟,最终在基片半绝缘膜上形成0.1—1微米厚度的导电膜,此时关闭微波电源,并同时关闭所有气体。
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