[发明专利]晶片检测装置有效

专利信息
申请号: 200810228479.9 申请日: 2008-10-31
公开(公告)号: CN101728292A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 侯宪华 申请(专利权)人: 沈阳芯源微电子设备有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 张志伟
地址: 110168 辽*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及半导体晶片加工过程中对晶片扫描记录的技术,具体的说是一种晶片检测装置,对被加工晶片片盒内晶片数量及其位置的记录,解决现有技术中存在的对片盒扫描时间长,影响设备产能等问题。该装置设有承片台、接近开关、压力开关、支架、码盘装置、丝杠传动装置,承片台为承片台I、承片台II相对设置于底座上,底座的底部设有丝杠传动装置,丝杠传动装置为配套使用的滚珠丝杠与螺母构成,底座与丝杠传动装置的螺母连接,滚珠丝杠顶部的丝杠座上装有接近开关,接近开关位于承片台I与承片台II之间。采用这种晶片检测方式可减少检测时间,提高产能。
搜索关键词: 晶片 检测 装置
【主权项】:
一种晶片检测装置,其特征在于:该装置设有承片台、接近开关、压力开关、支架、码盘装置、丝杠传动装置,承片台为承片台I、承片台II相对设置于底座上,底座的底部设有丝杠传动装置,丝杠传动装置为配套使用的丝杠与螺母构成,底座与丝杠传动装置的螺母连接,丝杠顶部的丝杠座上装有接近开关,接近开关位于承片台I与承片台II之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳芯源微电子设备有限公司,未经沈阳芯源微电子设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810228479.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top