[发明专利]提高OTP存储器可测性的系统和方法无效
| 申请号： | 200810210580.1 | 申请日： | 2008-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN101447233A | 公开（公告）日： | 2009-06-03 |
| 发明（设计）人： | 薛福隆;庄建祥;方文宽;陈柏宏 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04;G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京市德恒律师事务所 | 代理人： | 马铁良;梁 永 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 公开了一种测试逻辑电路的系统，用于在具有存储单元阵列的一次性可编程(OTP)式存储器中执行写入和读取操作，该系统包括测试单元列，其单元数与所述存储单元阵列的整列的单元数基本相同；测试单元行，其单元数与所述存储单元阵列的整行中单元数目基本相同；其中，在测试操作过程中首先对所述测试单元的列和行进行写入，接着进行读取，且所述测试单元的列和行在OTP存储器的非测试操作过程中永远不会被存取。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 otp 存储器 可测性 系统 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种测试逻辑电路的电路，用于在具有存储单元阵列的一次可编程(OTP)存储器中执行写入和读取操作，所述电路包括：测试单元列，其单元数与所述存储单元阵列的整列的单元数基本相同；测试单元行，其单元数与所述存储单元阵列的整行中单元数目基本相同；其中，在测试操作的过程中首先对测试单元的列和行中的至少一个单元进行写入，接着对所述单元进行读取，且所述单元在OTP存储器的非测试操作过程中永远不会被存取。
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