[发明专利]提高OTP存储器可测性的系统和方法无效
| 申请号： | 200810210580.1 | 申请日： | 2008-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN101447233A | 公开（公告）日： | 2009-06-03 |
| 发明（设计）人： | 薛福隆;庄建祥;方文宽;陈柏宏 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04;G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京市德恒律师事务所 | 代理人： | 马铁良;梁 永 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 提高 otp 存储器 可测性 系统 方法 | ||
1.一种测试逻辑电路的电路，用于在具有存储单元阵列的一次可编程(OTP)存储器中执行写入和读取操作，所述电路包括：
测试单元列，其单元数与所述存储单元阵列的整列的单元数基本相同；
测试单元行，其单元数与所述存储单元阵列的整行中单元数目基本相同；
其中，在测试操作的过程中首先对测试单元的列和行中的至少一个单元进行写入，接着对所述单元进行读取，且所述单元在OTP存储器的非测试操作过程中永远不会被存取。
2.根据权利要求1所述的电路，其中，所述测试单元和所述存储单元具有基本相同的结构。
3.根据权利要求1所述的电路，其中，所述测试单元的列或行被连续地写入交替的“0”和“1”模板，接着被连续地读取。
4.根据权利要求1所述的电路，其中，在被写入之前，所述测试单元的所述列或行被读取。
5.根据权利要求4所述的电路，其中，写入到测试单元的值与从相同测试单元读取的值相反。
6.一种嵌入在集成电路(IC)中的测试系统，其包括：
第一一次可编程(OTP)存储单元组，其以列排列；
第二OTP存储单元组，其以与所述列垂直的行排列；
逻辑电路，其被配置成为仅在测试操作过程中，对所述第一和第二OTP存储单元组进行编程和读取；
其中所述第一和第二OTP存储单元组仅在所述测试操作过程中是可电子存取的。
7.根据权利要求6所述的测试系统，其中，所述第一和第二OTP存储单元组是OTP存储阵列的一部分，并且其中所有单元都具有基本相同的结构。
8.根据权利要求6所述的测试系统，其中，所述第一和第二OTP存储单元组被连续地写入交替的“1”和“0”的模板，接着被连续地读取。
9.根据权利要求6所述的测试系统，其中，所述第一和第二OTP存储单元组在被写入之前被读取。
10.一种对一次可编程(OTP)存储器的逻辑电路进行测试的方法，所述一次可编程(OTP)存储器具有存储单元阵列，该方法包括：
提供测试单元列，其单元数与所述存储单元阵列的整列的单元数基本相同；
提供测试单元行，其单元数与所述存储单元阵列的整行的单元数基本相同；
在测试操作过程中，对至少一个所述测试单元进行存取；和
禁止在除所述测试操作之外的其它操作过程中对所述测试单元进行存取。
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