[发明专利]光电转换器件和多芯片图像传感器有效
申请号: | 200810210016.X | 申请日: | 2008-08-22 |
公开(公告)号: | CN101373785A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | 山崎和男;光地哲伸 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 康建忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供光电转换器件和多芯片图像传感器,其缩小像素间隔,而不会增大PN结电容。所述光电转换器件包括设置在其中的多个像素,每一个像素都包括构成光电转换区域的第一导电类型的第一杂质区域,设置在第一杂质区域中的构成信号获取区域的第二导电类型的第二杂质区域,第一导电类型的第三杂质区域和第一导电类型的第四杂质区域设置在每一个像素的外围,用于使每一个像素隔离,第四杂质区域被置于相邻像素之间,并且第四杂质区域的杂质浓度小于第三杂质区域的杂质浓度。 | ||
搜索关键词: | 光电 转换 器件 芯片 图像传感器 | ||
【主权项】:
1.一种包括多个像素的光电转换器件,每一个像素都具有光电转换区域,该光电转换区域包括:第一导电类型的第一杂质区域,和设置于第一杂质区域中的、作为信号获取区域操作的第二导电类型的第二杂质区域,其中与第一杂质区域相邻地设置有第一导电类型的第三杂质区域和第一导电类型的第四杂质区域,以便一个像素中的第四杂质区域被置于所述一个像素中的第二杂质区域和与所述一个像素相邻的其它像素中的第二杂质区域之间,并且第四杂质区域的杂质浓度小于第三杂质区域的杂质浓度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的