[发明专利]一种基于半导体测试数据的数据处理方法无效

专利信息
申请号: 200810177528.0 申请日: 2008-11-18
公开(公告)号: CN101739408A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 陈健华;顾荣华 申请(专利权)人: 和舰科技(苏州)有限公司
主分类号: G06F17/30 分类号: G06F17/30;G05B19/418
代理公司: 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人: 王光辉
地址: 215025 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种基于半导体测试数据的数据处理方法,首先从数据库中将已存储在数据库中的数据传递给被处理系统,然后在该被处理系统中中将所述数据与半导体测试数据进行比较,比较两个数据中的至少一个待比较值,如果有待比较值异常,则进入数据矫正阶段,对有待比较值异常的半导体测试数据进行矫正,如果数据无法矫正则转为人工处理,如果数据可以矫正则将半导体测试数据矫正并存入数据库中。本发明的数据处理方法,极大地减少了人工处理的时间,降低了需要人工处理的可能,同时提高了被处理系统中数据的及时性和正确性,做到了简单、快速、方便,使工程师能及时看到正确的数据做出分析,从而改善产品质量。
搜索关键词: 一种 基于 半导体 测试数据 数据处理 方法
【主权项】:
一种基于半导体测试数据的数据处理方法,其特征在于:首先从数据库中将已存储在数据库中的数据传递给被处理系统,然后在上述被处理系统中将所述数据与半导体测试数据进行比较,比较两个数据中的至少一个待比较值,如果有待比较值异常,则进入数据矫正阶段,对有待比较值异常的半导体测试数据进行矫正,如果数据无法矫正则转为人工处理,如果数据可以矫正则将半导体测试数据矫正存入数据库中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于和舰科技(苏州)有限公司,未经和舰科技(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810177528.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top