[发明专利]一种基于半导体测试数据的数据处理方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体制造领域，尤其涉及一种基于半导体测试数据的数据处理方法。

背景技术

社会发展到今天，当一个工程师追踪产品问题或者改进产品性能时，如果没有数据支持那是不可能完成工作的。可以说数据是当今企业的基石。随着当今半导体产业的发展，产品制造越来越自动化和智能化，产品生产制造环节也在不断细化，这样导致生产相关的数据量呈几何级爆炸式增长，那么，如何在简单、快速、方便正确的将数据管理起来的同时保证数据的准确性是一个困扰和困难的事情。原因如下：

1.巨量的数据在各个系统，例如生产管理系统(ManufacturingExecution System，MES)、电子设计自动化(Electronic Design Automation，EDA)系统、自动信息统计系统(Automatic Message Accounting System，AMAS)等系统中间相互传递，在各种操作系统平台上(windows/Unix/Lniux等)生成和查阅，以及在各种编码(二进制，十进制，十六进制，ASCII等)间相互转换，由于上面这些系统、平台、编码间存在差异性，有时难免会产生数据的错误；

2.现代半导体生产分工越来越细，一个集成电路(integrated circuit，IC)的生产数据需要随着生产步骤的深入需要在晶片制造厂、碰撞测试厂、电路检测(Circuit Probe，CP)测试厂、装配厂、FT测试厂以及客户间共享和传递，这种数据间的多次传递也导致数据容易发生错误；

3.所有的系统都需要人来做维护，这就可能由于人为的疏忽造成数据的错误，一个系统的错误，就可能进而产生所有相关系统的数据都出现错误甚至导致系统异常；

4.在大量数据面前即使万分之一的错误概率，也将导致大量的实际错误存在，就需要人花大量的精力去处理。

既然数据发生错误不可避免，这就潜在需要一个处理错误数据的处理系统，来自动矫正各种数据错误。

发明内容

本发明的目的在于克服上述问题，提供一种基于半导体测试数据的数据处理方法。

本发明所述的一种基于半导体测试数据的数据处理方法中，首先从数据库中将已存储在数据库中的数据传递给被处理系统，然后在上述被处理系统中将所述数据与半导体测试数据进行比较，比较两个数据中的至少一个待比较值，如果有待比较值异常，则进入数据矫正阶段，对有待比较值异常的半导体测试数据进行矫正，如果数据无法矫正则转为人工处理，如果数据可以矫正则将半导体测试数据矫正并存入数据库中。

上述待比较值包括关键值、属性值、特殊属性值和不可矫正属性值。

数据矫正步骤具体为：

(1)如果上述关键值异常，则上述被处理系统将上述半导体测试数据转给人工处理，人工处理完成后再重新进入处理程序；

(2)如果上述属性值异常，则上述被处理系统依照上述被处理系统中的数据，确定关键值与属性值是否属于预定原则，如果是，则根据上述预定原则对上述半导体测试数据进行矫正，如果不是，则转为人工处理；

(3)如果上述特殊属性值异常，则上述被处理系统将上述半导体测试数据丢弃；

(4)如果上述不可矫正属性值异常，则上述被处理系统将上述半导体测试数据转为人工处理。

上述预定原则是：

如果上述关键值不存在则需要转人工处理；

如果有三个或三个以上的上述属性值与上述被处理系统中的值一致，则根据上述被处理系统中的所述数据做数据矫正，否则转为人工处理。

上述特殊属性值异常是指数据中记录的测试时间比上述被处理系统中所述数据完成的时间早。

上述被处理系统包括用于提供上述数据的数据库模块、用于比较上述待比较值的数据比较模块和用于矫正异常数据的数据矫正模块。

上述关键值是产品批号；

上述属性值是产品型号、产品测试站点名称、产品测试制程编号、产品缺口位置、Map标示字符最长长度；

上述特殊属性值是开始时间；

上述不可矫正属性值是片号和产品测试值图。

上述方法在半导体后段制程中，用于凡是晶片以片装存在的情况下的数据处理。

本发明的数据处理方法，极大地减少了人工处理的时间，降低了需要人工处理的可能，同时提高了被处理系统中数据的及时性和正确性，做到了简单、快速、方便，使工程师能及时看到正确的数据做出分析，从而改善产品质量。

附图说明

图1表示本发明执行数据矫正的流程图。

具体实施方式