[发明专利]一种基于半导体测试数据的数据处理方法

权利要求书

1.一种基于半导体测试数据的数据处理方法，其特征在于：

首先从数据库中将已存储在数据库中的数据传递给被处理系统，然后在上述被处理系统中将所述数据与半导体测试数据进行比较，比较两个数据中的至少一个待比较值，如果有待比较值异常，则进入数据矫正阶段，对有待比较值异常的半导体测试数据进行矫正，如果数据无法矫正则转为人工处理，如果数据可以矫正则将半导体测试数据矫正存入数据库中。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于上述待比较值包括关键值、属性值、特殊属性值和不可矫正属性值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于数据矫正步骤具体为：

(1)如果上述关键值异常，则上述被处理系统将上述半导体测试数据转给人工处理，人工处理完成后再重新进入处理程序；

(2)如果上述属性值异常，则上述被处理系统依照上述被处理系统中的数据，确定关键值与属性值是否属于预定原则，如果是，则根据上述预定原则对上述半导体测试数据进行矫正，如果不是，则转为人工处理；

(3)如果上述特殊属性值异常，则上述被处理系统将上述半导体测试数据丢弃；

(4)如果上述不可矫正属性值异常，则上述被处理系统将上述半导体测试数据转为人工处理。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于上述预定原则是：

如果上述关键值不存在则需要转人工处理；

如果有三个或三个以上的上述属性值与上述被处理系统中的值一致，则根据上述被处理系统中的所述数据做数据矫正，否则转为人工处理。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于上述特殊属性值异常是指数据中记录的测试时间比上述被处理系统中所述数据完成的时间早。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于上述被处理系统包括用于提供上述数据的数据库模块、用于比较上述待比较值的数据比较模块和用于矫正异常数据的数据矫正模块。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于

上述关键值是产品批号；

上述属性值是产品型号、产品测试站点名称、产品测试制程编号、产品缺口位置、Map标示字符最长长度；

上述特殊属性值是开始时间；

上述不可矫正属性值是片号和产品测试值图。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于上述方法在半导体后段制程中，用于凡是晶片以片装存在的情况下的数据处理。