[发明专利]具背侧保护结构的半导体组件封装结构及其方法有效

专利信息
申请号: 200810174980.1 申请日: 2008-10-31
公开(公告)号: CN101447461A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 杨文焜;许献文 申请(专利权)人: 育霈科技股份有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00;H01L23/485;H01L23/544;H01L21/50;H01L21/60;H01L21/78;H01L21/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 任默闻
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供具背侧保护结构的半导体组件封装结构及其方法,所述半导体组件封装结构包括晶粒,所述晶粒具有背表面及主动表面形成于所述晶粒上;黏胶层,所述黏胶层形成于晶粒的背表面上;保护基板,所述保护基板形成于黏胶层上;以及多个凸块,所述多个凸块形成于晶粒的主动表面上,以用于电连接。本发明更提供用于形成半导体组件封装的方法,其包括提供一具有背表面及主动表面的多个晶粒的晶片;于上述晶粒的背表面上形成黏胶层;于上述黏胶层上形成保护基板;于上述晶粒的主动表面上形成多个凸块;以及将多个晶粒切割成单独晶粒以将其单一化。
搜索关键词: 具背侧 保护 结构 半导体 组件 封装 及其 方法
【主权项】:
1. 一种半导体组件封装结构,其特征在于,所述半导体组件封装结构包括:一晶粒,所述晶粒具有一背表面及一主动表面形成于所述晶粒上;一黏胶层,所述黏胶层形成于所述晶粒的所述背表面上;一保护基板,所述保护基板形成于所述黏胶层上;及多个凸块,所述多个凸块形成于所述晶粒的所述主动表面上,以用于电连接。
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