[发明专利]背光模块的短路检测电路有效

专利信息
申请号: 200810172807.8 申请日: 2008-10-29
公开(公告)号: CN101730349A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: 陈廷仰;李秋平;尹明德 申请(专利权)人: 原景科技股份有限公司
主分类号: H05B37/03 分类号: H05B37/03;F21V23/00;G09G3/36
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 蒲迈文
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种短路检测电路,用以检测背光模块的短路状况,其中背光模块包含一白光发光二极管电路,白光发光二极管电路包含第一端及第二端,第一端电性连接一输出电压,第二端电性连接至一驱动电路,短路检测电路包含:一P型金属氧化物半导体晶体管、一N型金属氧化物半导体晶体管、一负载及一检测模块。P型金属氧化物半导体晶体管的栅极接收第一电压,源极电性连接至第二端;N型金属氧化物半导体晶体管的栅极接收参考电压,漏极电性连接至P型金属氧化物半导体晶体管的漏极,源极电性连接至一检测端;当白光发光二极管电路具有短路状况而于第二端产生一短路电位,且参考电压为一高态时,检测端的电压亦为一高态,使电性连接检测端的检测模块触发以检测到短路状况。
搜索关键词: 背光 模块 短路 检测 电路
【主权项】:
一种短路检测电路,用以检测一背光模块的短路状况,其中该背光模块包含一白光发光二极管电路,该白光发光二极管电路包含一第一端及一第二端,该第一端电性连接一输出电压,该第二端电性连接至一驱动电路,该短路检测电路包含:一P型金属氧化物半导体晶体管,包含一栅极、一漏极及一源极,其中该栅极接收一第一电压,该源极电性连接至该第二端;一N型金属氧化物半导体晶体管,包含一栅极、一漏极及一源极,其中该栅极接收一参考电压,该漏极电性连接至该P型金属氧化物半导体晶体管的该漏极,该源极电性连接至一检测端,当该白光发光二极管电路具有一短路状况而于该第二端产生穿过该P型金属氧化物半导体晶体管的一短路电位,且该参考电压为一高态时,该检测端的电压亦为一高态;一负载,电性连接于该N型金属氧化物半导体晶体管的该源极及一接地电位之间;以及一检测模块,电性连接该检测端,当该检测端的电压为高态时,触发该检测模块以检测到该短路状况。
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