[发明专利]背光模块的短路检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种短路检测电路，特别是涉及一种用以检测一背光模块 的短路状况的短路检测电路。

背景技术

液晶面板中须要背光光源以提供面板适当的亮度。其中，白光发光二 极管在近年来已经成为背光光源的新主流。为了驱动液晶面板中愈来愈多 的白光发光二极管，驱动电路须要提供较高的电压以维持白光发光二极管 的运作。当白光发光二极管电路中，部份的白光发光二极管产生短路的状 况时，此短路状况将产生极高的电压，并极可能自白光发光二极管电路影 响至与其相接的驱动电路，如果未能有检测及保护的机制，将使得驱动电 路随时都有受到短路状况影响而毁损的可能。

除此之外，上述因短路状况产生的高电压，将因发生短路的白光发光 二极管数目而有所不同。如果发生短路的白光发光二极管数目较少，所产 生的高电压尚不足以影响驱动电路的运作。因此，为了适当地设定一个临 界值来判断可能产生影响的电压电平，短路检测电路亦须具有可以调整此 临界值的机制以随不同的驱动电路做调整。

因此，如何设计一个新的短路检测电路，能够在适当的临界值检测到 短路状况的发生，乃为此一业界亟待解决的问题。

发明内容

因此本发明的目的就是在提供一种短路检测电路，系用以检测一背光 模块的短路状况，其中背光模块包含一白光发光二极管电路，白光发光二 极管电路包含第一端及第二端，第一端电性连接一输出电压，第二端电性 连接至一驱动电路，短路检测电路包含：一P型金属氧化物半导体晶体管、 一N型金属氧化物半导体晶体管、一负载及一检测模块。P型金属氧化物半 导体晶体管包含栅极、漏极及源极，其中栅极接收一第一电压，源极电性 连接至第二端；N型金属氧化物半导体晶体管包含栅极、漏极及源极，其中 栅极接收一参考电压，漏极电性连接至P型金属氧化物半导体晶体管的漏 极，源极电性连接至一检测端，当白光发光二极管电路具有短路状况而于 第二端产生穿过P型金属氧化物半导体晶体管的一短路电位，且参考电压 为一高态时，检测端的电压亦为一高态；负载电性连接于N型金属氧化物 半导体晶体管的源极及接地电位之间；以及检测模块电性连接检测端，当 检测端的电压为高态时，触发检测模块以检测到短路状况。

本发明的另一目的是在提供一种背光模块，包含：一白光发光二极管 电路、一驱动电路以及一短路检测电路。白光发光二极管电路包含一第一 端，第一端电性连接一输出电压；驱动电路电性连接至白光发光二极管电 路的第二端；以及短路检测电路包含：一P型金属氧化物半导体晶体管、 一N型金属氧化物半导体晶体管、一负载及一检测模块。P型金属氧化物半 导体晶体管包含栅极、漏极及源极，其中栅极接收一第一电压，源极电性 连接至第二端；N型金属氧化物半导体晶体管包含栅极、漏极及源极，其中 栅极接收一参考电压，漏极电性连接至P型金属氧化物半导体晶体管的漏 极，源极电性连接至一检测端，当白光发光二极管电路具有短路状况而于 第二端产生穿过P型金属氧化物半导体晶体管的一短路电位，且参考电压 为一高态时，检测端的电压亦为一高态；负载电性连接于N型金属氧化物 半导体晶体管的源极及接地电位之间；以及检测模块电性连接检测端，当 检测端的电压为高态时，触发检测模块以检测到短路状况。

本发明的短路检测电路提供一简单的电路设计，能对白光发光二极管 电路的短路状况进行检测以保护驱动电路。更进一步地，加强型P型金属 氧化物半导体晶体管的数目提供一可调整的短路电压电平的检测临界值， 而可应用于不同的驱动电路中。

在参阅附图及随后描述的实施方式后，本领域技术人员便可了解本发 明的目的，以及本发明的技术手段及实施态样。

附图说明

为使本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂， 结合附图详细说明如下：

图1为本发明的第一实施例的背光模块的方块图；

图2为本发明的第一实施例的短路检测电路的示意图；

图3为参考电压、第二端的电压及检测端的电压的电压波形图；

图4为本发明的另一实施例的白光发光二极管电路的示意图；以及

图5为本发明的另一实施例的短路检测电路的示意图。

附图符号说明

1：背光模块                        10：白光发光二极管电路

100：第一端                         101：输出电压