[发明专利]用于微粒的光学检测方法和光学检测装置有效
| 申请号： | 200810171945.4 | 申请日： | 2008-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN101419171A | 公开（公告）日： | 2009-04-29 |
| 发明（设计）人： | 篠田昌孝;今西慎悟 | 申请（专利权）人： | 索尼株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/65;G01N33/48 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 余 刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于微粒的光学检测方法和光学检测装置，所述装置包括：光照射部，被配置为将激光束照射到在流道中被连续输送的微粒中的一个上；以及光检测部，被配置为检测激光束照射的任何微粒所产生的荧光和/或散射光；所述方法包括以下步骤：将激光束照射到在流道中被连续输送的微粒中的一个上；并且检测微粒产生的荧光和/或散射光；其中，激光束被形成为这样的脉冲激光束，所述脉冲激光束的脉冲强度被调节，从而使得一个激光束或者具有不同波长的两个以上的激光束用变化的强度来多次照射一个微粒。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 微粒 光学 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种光学检测方法，包括以下步骤：将激光束照射到在流道中被连续输送的微粒中的一个上；并且检测由所述微粒所产生的荧光和/或散射光；所述激光束被形成为这样的脉冲激光束，该脉冲激光束的脉冲强度被调节，从而使得一个激光束或者具有不同波长的两个以上的激光束用变化的强度来多次照射一个微粒。
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