[发明专利]用于微粒的光学检测方法和光学检测装置

权利要求书

1.一种光学检测方法，包括以下步骤：

将激光束照射到在流道中被连续输送的微粒中的一个 上；并且

检测由所述微粒所产生的荧光和/或散射光；

所述激光束被形成为这样的脉冲激光束，该脉冲激光束 的脉冲强度被调节，从而使得一个激光束或者具有不同波长的 两个以上的激光束用变化的强度来多次照射一个微粒，

其中，在所述微粒的流动速度由x来表示、所述激光束 的光斑直径由y来表示、所述激光束的调节次数由w来表示、 并且所述激光束的波长数由n来表示的情况下，所述激光束的 脉冲宽度p满足以下表达式(A)：

p<yx×(w+1)×n...(A),]]>

其中，x、y、w和p的单位分别为m/秒、m、次和秒。

2.根据权利要求1所述的光学检测方法，其中，根据所述激光束 的强度将所述检测到的荧光和/或散射光标准化。

3.根据权利要求2所述的光学检测方法，其中，所述微粒的类型 或状态由所述标准化的值来识别。

4.根据权利要求1所述的光学检测方法，其中，将具有彼此不同 的波长的两个以上的激光束以所述经调节的脉冲强度和以彼 此移位的相位来照射所述微粒，并且对于所述激光束的每个波 长检测所述微粒产生的所述荧光和/或散射光。

5.根据权利要求4所述的光学检测方法，其中，所述微粒具有由 两种以上不同荧光染料所修饰的形式，并且通过逆矩阵分析来 分析当照射一个激光束时所检测到的荧光或散射光，在所述逆 矩阵分析中，未被所述激光束激发的任何一种荧光染料的参考 光谱都被设置为零。

6.根据权利要求1所述的光学检测方法，其中，所述激光束是超 短脉冲激光束。

7.根据权利要求6所述的光学检测方法，还包括以下步骤：

预先检测出使检测对象的微粒破坏的温度和/或光强度， 根据所述检测的结果，调整所述脉冲激光束的照射强度、照射 时间、照射波形、脉冲持续时间、相位、脉冲宽度和脉冲形状 中的至少一个条件。

8.根据权利要求1所述的光学检测方法，其中，所述微粒是细胞 或者微珠。