[发明专利]用于微粒的光学检测方法和光学检测装置有效
| 申请号: | 200810171945.4 | 申请日: | 2008-10-24 |
| 公开(公告)号: | CN101419171A | 公开(公告)日: | 2009-04-29 |
| 发明(设计)人: | 篠田昌孝;今西慎悟 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
| 主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/65;G01N33/48 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余 刚;吴孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 微粒 光学 检测 方法 装置 | ||
相关申请的交叉参考
本发明包含于2007年10月26日向日本专利局提交的日本专 利申请JP2007-278907所涉及的主题,其全部内容结合于此作为参 考。
技术领域
本发明涉及一种光学检测方法和光学检测装置,用于单个地识 别诸如细胞或者微珠的微粒。具体地说,本发明涉及一种光学检测 方法和光学检测装置,其中,当特定波长的激光束照射到微粒上时, 根据微粒所产生的荧光或散射光来识别微粒的类型。
背景技术
通常,当想要识别诸如细胞、微生物或者核糖体的涉及活体的 小颗粒时,例如,如在Hiromitsu NAKAUCHI,“Cellular Engineering Separate Volume,Experiment Protocol Series,Master Flow cytometry”, Shujunsha Co.Ltd.,第二版,2006年8月31日(在下文中称为专 利文献1)中所披露的,使用了利用流式细胞计量术或者流式细胞 计数器的光学检测方法。流式细胞计量术是这样一种方法:将特定 波长的激光束照射到在流道中被连续输送的一行微粒的一个上并 检测该微粒产生的荧光或者散射光来逐个区分多个微粒。
具体地说,在流式细胞中,层流是由包括检测对象的微粒的样 品液体和在样品液体周围流动的鞘液(sheath liquid)构成的。此外, 在样品液体和鞘液之间施加非常小的压力差将包括在样品液体中 的多个微粒排列成行。如果,在这种状态下,将激光束照射到流式 细胞上,那么微粒将逐个地穿过激光束。这时,利用电子光学检测 器来检测由激光束所激发并且由每个微粒所产生的荧光和/或散射 光。
然后,将所检测到的光转换为电子信号和数值以执行统计分 析,由此确定每个微粒的类型、大小、结构等。需要注意的是,如 果检测对象的每个微粒用多种荧光染料来修饰,那么即使使用滤光 片将所检测到的光分离为单独的波长带,来自非目标荧光染料的荧 光染料的荧光有时也漏入不同于目标荧光染料的检测器的检测器 中。因此,在现有技术的检测方法中,为了仅获得来自对象荧光的 数据,通常执行减去荧光的叠加的荧光校正。
此外,由于利用流式细胞计量术能够单个地识别微粒的类型、 大小、结构等并且能够同时分析多个参数,所以即使在样品液体包 括多种微粒的情况下,也可以仅快速并且确定地分配所需的微粒。
同样,在过去已经提出了为了能够检测用多种荧光染料修饰的 微粒所产生的多个荧光,引导具有彼此不同的波长的激光束沿着相 同的入射光路从而照射到微粒上的流式细胞计量器。这种类型的流 式细胞计量器在日本专利公开第2007-046947号(在下文中称为专 利文献1)中被披露。图12是示意性地示出了在专利文献1中披露 的流式细胞计量器的构造。参照图12,流式细胞计量器101包括: 流式系统102,用于将用荧光染料修饰的细胞在流式细胞中排成一 列;以及光学系统103,用于将具有彼此不同的波长的多个激光束 照射到细胞上从而检测诸如散射光和荧光的检测对象光。流式细胞 计量器101还包括信号处理装置104,用于控制和处理与从光学检 测系统103输出的散射光和荧光相关的电子信号。
在现有技术的流式细胞计量器101中,从光源106a、106b和 106c以彼此不同的相位,在预定周期内照射具有彼此不同的波长的 多个激光束。通过导光构件107将激光束导入相同的入射光路并会 聚到细胞105上。因此,即使在多个激光束照射在用多种荧光染料 标记的细胞上,也可以使用一个入射光路。因此,可以不设定延迟 时间而检测从细胞发射的多个荧光。
此外,还已披露了这样一种方法,其中,为了分配可用于再生 医学、移植等的活细胞,目标对象细胞被分离并进行分配而不必执 行荧光标记(其中,使用诸如结合了荧光染料的抗体的探针)。本 方法披露于日本专利公开第2003-304867号(在下文中称为专利文 献2)中。在专利文献2所披露的方法中,检测从细胞发射的向前 散射光和向后散射光,并且细胞的检测值作为位置信息显示在二维 屏幕上,从而识别细胞的大小和结构。
发明内容
但是,在上述现有技术中的检测方法和检测装置具有下列问 题。具体地说,现有技术检测方法的第一个问题是,如果利用微粒 产生的荧光或散射光的强度发生分配,那么上述荧光校正和基于荧 光校正结果所执行的数据分析的精度将降低。
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