[发明专利]显示装置有效
| 申请号： | 200810167741.3 | 申请日： | 2008-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN101398547A | 公开（公告）日： | 2009-04-01 |
| 发明（设计）人： | 国森隆志;山崎泰志;佐藤尚;安森正宪 | 申请（专利权）人： | 爱普生映像元器件有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京金信立方知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄 威;张 彬 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种具有光量检测装置的显示装置，其具备光灵敏度校正功能且能够通过简单的工序制造。该显示装置在基板上具备显示区域，并将由第1、第2光检测部(10a)，(10b)检测到的光量作为光量信号(S)输出，其特征在于，第1光检测部(10a)具有第1光检测电路(LS1)和减光装置，该第1光检测电路(LS1)将第1输出信号(Sa)输出到光传感器读取部(20)；第2光检测部(10b)具有第2光检测电路(LS2)，该第2光检测电路(LS2)将第2输出信号(Sb)输出到光传感器读取部(20)；光传感器读取部(20)具备：对光劣化校正系数(K)进行演算的光劣化系数演算部(21)，和根据光劣化校正系数(K)导出光劣化率(D)的光劣化率演算部(22)，以及根据光劣化率(D)输出光量信号(S)的光信号输出部(24)。 | ||
| 搜索关键词： | 显示装置 | ||
【主权项】：
1、一种显示装置，具有在基板上具备与各像素对应的开关元件的显示区域，其特征在于，包括：光量检测装置，包括：第1光检测部，其具备第1光传感器；第2光检测部，其具备第2光传感器；光传感器读取部，所述光量检测装置将由所述第1光检测部和所述第2光检测部检测到的光量作为光量信号输出；减光装置，其形成在俯视时叠加于所述第1光传感器或者所述第2光传感器中至少一个的区域上，使入射到所述第1光传感器和第2光传感器的入射光量不同；并且，所述第1光检测部具有第1光检测电路，该第1光检测电路将基于入射到第1光传感器的入射光的第1输出信号输出到所述光传感器读取部；所述第2光检测部具有第2光检测电路，该第2光检测电路，将基于入射到第2光传感器的入射光的第2输出信号输出到所述光传感器读取部；所述光传感器读取部具备：劣化系数演算部，其对所述第1输出信号和所述第2输出信号之比，即测定比进行演算，并演算劣化校正系数，该劣化校正系数是所述测定比和预先测定的初始状态的所述测定比即初始比之比；光劣化率演算部，其根据所述光劣化校正系数导出所述第1或第2输出信号的光劣化率；光信号输出部，其根据所述光劣化率将所述第1或第2输出信号校正成初始状态的光量信号后输出。
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