[发明专利]显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种显示装置。 

背景技术

现有的光量检测电路是利用薄膜晶体管的漏电流与受光量成比例的关系，用该漏电流向电压检测用电容器进行电荷的充电或放电，并监视该电容器两端之间的电压变化，从而检测光量(如专利文献1)。 

薄膜晶体管的漏电流虽然与受光量成比例，但是，众所周知作为漏电流值相对于受光量的光灵敏度会因暴露在光中而下降。因此，在上述专利文献1的光量检测电路中，由于该光灵敏度的降低而导致光量检测精度的下降。 

现已有一种光电转换元件，是为了防止如上述的检测精度的下降而改良了薄膜晶体管的制造方法，提高了耐劣化特性(如专利文献2)。 

专利文献1日本特开2006-29832号公报 

专利文献2日本特开平9-232620号公报 

但是，上述专利文献2中记载的光电转换元件需要特殊的制造条件，因此具有制造成本上升的问题。具体为，当将光传感器嵌入到使用薄膜晶体管的显示装置内部，或者用一个装置制造显示装置和光传感器时，无法将显示装置的驱动晶体管和制造工序通用化，所以需要追加制造工序和对制造装置进行繁杂的条件设定。

发明内容

本发明是以解决上述课题的至少一部分为目的，可通过以下的形式或应用例来实现。 

【应用例1】 

本应用例的显示装置为，具有在基板上具备与各像素相对应的开关元件的显示区域的显示装置，其特征在于，包括：第1光检测部，其具备第1光传感器；第2光检测部，其具备第2光传感器；光量检测装置，其具有光传感器读取部，将在所述第1光检测部和所述第2光检测部检测到的光量作为光量信号输出；减光装置，其形成在俯视时叠加于所述第1光传感器和所述第2光传感器中的至少一个的区域上，并使向所述第1光传感器和第2光传感器的入射光量不同；并且，所述第1光检测部具有第1光检测电路，该第1光检测电路将基于入射到第1光传感器的入射光的第1输出信号输出到所述光传感器读取部；所述第2光检测部具有第2光检测电路，该第2光检测电路，将基于入射到第2光传感器的入射光的第2输出信号输出到所述光传感器读取部；所述光传感器读取部具备：劣化系数演算部，其对所述第1输出信号和所述第2输出信号之比，即测定比进行演算，再演算光劣化校正系数，该光劣化校正系数是所述测定比和预先测定的初始状态的所述测定比即初始比之比；光劣化率演算部，其根据所述光劣化校正系数导出所述第1或第2输出信号的光劣化率；光信号输出部，其根据所述光劣化率校正所述第1或第2输出信号使其成为初始状态的光量信号后输出。 

由此，可以从第1或第2输出信号和预先准备的初始比演算出初始状态的第1或第2输出信号，所以无需对第1和第2光传感器的结构进行改变就能获取具备光灵敏度校正功能的显示装置。 

并且，第1和第2光传感器的制造工序能够与显示装置的驱动晶体管和制造工序通用，所以通过简单的工序就能制造第1和第2光传感器。从而，能够降低制造成本。 

【应用例2】在上述显示装置中，优选为，具有：第1减光装置，其减低入射到所述第1光传感器的光量；第2减光装置，其减低入射到所述第2光传感器的光量；并且，通过所述第2减光装置的入射光的减低率大于通过所述第1减光装置的入射光的减低率。 

由此，可减低入射到第1光传感器和第2光传感器的光量，所以能够延迟各个光传感器的光劣化速度。所以能够延长由于各个光传感器的光劣化的进行，第1输出信号和第2输出信号之比不再变化进而导致无法充分进行校正为止的时间。因此，根据该结构则可以提供能延长校正寿命的显示装置。 

【应用例3】上述显示装置中，优选为，所述第1减光装置和所述第2减光装置的相对光谱透过率相等。 

由此，可抑制因入射光的差而在第1光传感器和第2光传感器上产生的光劣化量的偏差。这是由于光劣化量取决于入射到各个光传感器的入射光的光谱特性和各个光传感器的光谱灵敏度的乘积，所以可通过使用相对光谱透过率相等的减光装置抑制因入射光的差而发生的光劣化量的偏差。因此，能够提供可进行稳定的校正的显示装置。

【应用例4】在上述显示装置中，优选为，所述减光装置具有遮光构件，该遮光构件遮蔽入射到所述第1光传感器或所述第2光传感器的光的一部分。 

由此，可以对入射到所述第1光传感器或所述第2光传感器的光进行减光。所以，可从第1和第2输出信号及预先准备的初始比算出初始状态的第1或第2输出信号，进而可实现无需对第1和第2光传感器的结构进行改变，具备光灵敏度校正功能并可延长校正寿命的显示装置。