[发明专利]集成电路表征系统及方法有效
| 申请号： | 200810144441.3 | 申请日： | 2008-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN101639799A | 公开（公告）日： | 2010-02-03 |
| 发明（设计）人： | V·L·扎瓦德斯凯;M·谢尔斯泰尤克 | 申请（专利权）人： | 英赛特半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/28 | 分类号： | G06F11/28 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王 勇;姜 华 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 本发明提出一种表征集成电路以与集成电路操作的特性相关的预定义系统级特征进行比较的系统和方法，在其中引起该特性的集成电路上执行测试程序，同时至少引用一个限制该集成电路操作的操作瓶颈，以呈现与该特性相关的系统级操作。收集响应瓶颈通过测试程序产生的数据，由此比较呈现的系统级操作与预定义的系统级特征的一致性。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 表征 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种表征集成电路(IC)用于和与集成电路操作的特性相关的预定义的系统级特征进行比较的方法，所述方法包括以下步骤：在引起所述特性的所述集成电路上执行测试程序；在所述执行步骤期间引用至少一个操作瓶颈，以限制所述集成电路的操作，从而呈现其相关于所述特性的系统级操作；收集响应所述瓶颈通过所述测试程序产生的数据；以及比较由所述数据呈现的所述系统级操作与所述预定义系统级特征的一致性。
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