[发明专利]集成电路表征系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路，特别涉及一种集成电路表征系统及方法。

背景技术

集成电路(IC)的多种特征、结构和/或属性通常由多种文件类 型进行文本描述。例如，有多种描述文档用以表示一种集成电路相对于它 的之前版本或竞争对手产品所具有的优点和/或好处。此描述文档可包括， 但不局限于，营销素材、广告活动、用户手册和技术规范、购买和(或) 制造协议、研发进展报告、知识产权文档，诸如此类。

在某些情形下，评估这些声明的有效性是有用的或必须的，否 则需要再次调查竞争产品是否也具有类似属性。例如，厂商关于某特定集 成电路特性的声明可能被怀疑是否遵循一种或多种性能标准或产品合格 鉴定，其或者在质量控制程序的范围内再次查证，或者在与之竞争的研究 中探查。或者是，这些特性可为法律诉讼的主题，例如在一个涉及关联到 某给定产品知识产权的事件中。例如，首个拥有任何具有由一项或多项专 利权利要求所定义的某些特征的集成电路的权利的一方当事人，可能寻求 调查一竞争者的产品，以评估此产品的商业化是否存在对这些权利要求的 侵权。此例中，通常需要使用所要求保护的主题内容的证据，此类证据通 常从开放市场获得的一种或多种产品中收集得到。

紧接上例，在要求支持的微电子领域的专利(或如上所述的其 他描述文件)可能要求保护独特的电路和/或结构。正如本领域技术人员所 显而易见的，常常使用传统的反向工程方法可以获得对这些权利要求的支 持，可从中“提取”出IC的电路和/或结构的细节。

对于普通技术人员从集成电路中提取电路的技术将是易见的。 通常，所感兴趣的电路一般少于10,000门。在此情况下，从完成的产品 中提取电路(例如，从位于集成电路一层或多层上的电路元件的物理布局 中得到电路)，得到一示意图，并对此示意图是否提供了所要求保护的电 路作出判断。

当所讨论的电路有超过上述数量的门数时，分层和提取电路的 方法变得更困难。然而，在电路有此数量门的情况下其能充分提供集成电 路的操作的特定特征。也就是，在集成电路中的此电路的存在提供了此集 成电路的特定功能。

因此这就存在使用反向工程进行电路提取的传统方法不易获 得对要求保护的主题的支持的情形。属于此情形的一个特定例子包括所谓 的集成电路操作的系统级特性，但不仅限于此。即，使用常规方法对处于 完成状态的集成电路的系统级操作的确定是非常困难的，如果不是不可能 的话。此外，尽管已有多种基准测试程序可用于比较类似的集成电路在不 同条件下的性能，但这种测试只能检测出集成电路在不同运行负载下的整 体性能，而无法检测出其系统级的操作。因此，尽管可以确定两个集成电 路在不同环境下以类似的方式工作，但这些测试程序不能检测出执行这些 工作的集成电路的系统级的操作。另外，传统的性能测试程序的实现通常 采用传统的操作系统，其中，在多种情形下，此操作系统(OS)可屏蔽其 原有操作，进而隐藏感兴趣的原有系统级操作。

因此需要一种新的集成电路表征系统和方法以克服现有技术 的一些缺陷。

本背景资料提供了申请人认为可能与本发明相关的材料。无需 特指也不必解释的是，任何之前的材料都构成了与本发明对比的现有技 术。

发明内容

本发明的目的之一在于，提供一种集成电路表征系统及方法。

根据本发明的一个方面，提供一种表征集成电路(IC)用于和 与集成电路操作的特性(aspect)相关的预定义的系统级特征进行比较的方 法，所述方法包括以下步骤：在引起所述特性的所述集成电路上执行测试 程序；在该执行步骤期间引用至少一个操作瓶颈(operational bottleneck)， 以限制所述集成电路的操作，从而呈现其相关于所述特性的系统级操作； 响应所述瓶颈收集通过所述测试程序产生的数据；以及比较由该数据呈现 的该系统级操作与所述预定义系统级特征的一致性。