[发明专利]集成电路表征系统及方法

权利要求书

1.一种表征集成电路(IC)用于和与集成电路操作的特性相关的预定 义的系统级特征进行比较的方法，所述方法包括以下步骤：

在引起所述特性的所述集成电路上执行测试程序；

在所述执行期间引用至少一个操作瓶颈，以限制所述集成电路的操 作，从而呈现其相关于所述特性的系统级操作；

收集响应所述瓶颈通过所述测试程序产生的数据；以及

比较由所述数据呈现的所述系统级操作与所述预定义系统级特征的 一致性。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述数据包括侧通道数据。

3.根据权利要求1所述的方法，其中在有利于呈现其原有操作的环境 中操作集成电路执行所述测试程序。

4.根据权利要求1所述的方法，其中预定义特征由与集成电路操作有 关的专利权利要求的要素定义，并且其中所述比较包括比较所述集成电路 的操作与所述专利权利要求的要素的一致性。

5.根据权利要求1所述的方法，其中在不受操作系统影响的环境下操 作集成电路执行所述测试程序。

6.根据权利要求5所述的方法，其中在不受操作系统影响的环境下操 作所述集成电路包括以下步骤：

提供开源操作系统；

调整所述开源操作系统，以移除至少一个在操作中隐藏所述集成电路 原有操作的参数；以及

在所述集成电路上执行修改的开源操作系统。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述特性选自存储器管理和电源 管理。

8.根据权利要求1所述的方法，其中所述瓶颈由所述测试程序所引 用。

9.根据权利要求1所述的方法，其中所述瓶颈明确地从所述测试程序 所引用。

10.根据权利要求1所述的方法，其中所述特征包括由描述性文档所定 义的功能性特征。

11.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试程序包括基准测试。

12.一种表征集成电路(IC)用于和与集成电路操作的特性相关的预定 义的系统级特征进行比较的系统，该系统包括：

用于在引起所述特性的所述集成电路上执行测试程序的装置；

用于在所述执行期间引用至少一个操作瓶颈以限制所述集成电路的 操作，从而呈现其相关于所述特性的系统级操作的装置；

用于收集响应所述瓶颈通过所述测试程序产生的数据的装置；和

用于比较由所述数据所呈现的所述系统级操作与预定义系统级特征 的一致性的装置。

13.根据权利要求12所述的系统，还包括存储有操作系统(OS)的 装置，所述操作系统(OS)被配置成使所述测试程序在所述集成电路上执 行。

14.根据权利要求13所述的系统，其中所述操作系统被配置成使所述 测试程序在不受操作系统影响的环境下执行。

15.根据权利要求13所述的系统，其中所述操作系统包括基于Linux 的操作系统。

16.根据权利要求13所述的系统，其中所述操作系统包括被禁止的中 断。

17.根据权利要求13所述的系统，还包括至少一个未初始化的外围设 备。

18.根据权利要求12所述的系统，其中所述数据包括侧通道数据。

19.根据权利要求12所述的系统，其中所述测试程序包括基准测试。