[发明专利]采用光路变更部件的处理盒的间隔测定方法以及用该测定方法测定的处理盒无效
| 申请号： | 200810134750.2 | 申请日： | 2008-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN101373368A | 公开（公告）日： | 2009-02-25 |
| 发明（设计）人： | 莿木正史;昆诚 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达商用科技株式会社 |
| 主分类号： | G03G21/18 | 分类号： | G03G21/18;G03G21/00;G03G15/00;G01B11/14 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 雒运朴;李伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种用简单的操作、不对处理盒的设计上做出过大制约的、像载置体和显影剂载置体的间隔Ds测定方法，以及使用该测定方法测定的处理盒。对于至少备有像载置体和显影剂载置体的处理盒，采用发光元件和受光元件，测定所述像载置体和所述显影剂载置体之间间隔的处理盒的间隔测定方法，其特征在于，通过光路变更部件使从所述发光元件发出的光的光路改变，且使所述光穿过所述像载置体和所述显影剂载置体之间，来测定所述间隔。 | ||
| 搜索关键词： | 用光 变更 部件 处理 间隔 测定 方法 以及 | ||
【主权项】：
1.一种对于至少备有像载置体和显影剂载置体的处理盒，采用发光元件和受光元件，测定所述像载置体和所述显影剂载置体之间间隔的处理盒的间隔测定方法，其特征在于，通过光路变更部件使从所述发光元件发出的光的光路改变，且使所述光穿过所述像载置体和所述显影剂载置体之间，来测定所述间隔。
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