[发明专利]采用光路变更部件的处理盒的间隔测定方法以及用该测定方法测定的处理盒

说明书

技术领域

本发明涉及采用电子照相方式的图像形成装置中的处理盒的间隔测定方法以及使用该间隔测定方法测定的处理盒。更详细的是，涉及采用发光元件和受光元件测定像载置体和显影剂载置体之间隔的处理盒的间隔测定方法，以及使用该间隔测定方法测定的处理盒。

背景技术

采用电子照相方式的图像形成装置中，较普遍是在图像形成装置中装卸自在地内藏被称之为处理盒的单元结构装置。

这里所说的处理盒，至少是显影装置和像载置体构成一体的单元，其中显影装置备有显影剂载置体，也有在其中再加上带电装置、清洁装置等多个处理手段，并将它们构成一体的单元化的处理盒。通过定期交换处理盒，能够简单地更新消耗品，容易地进行图像形成装置的维修。

另一方面，近年来，对采用电子照相方式的图像形成装置的图像质量的要求越来越高，而像载置体与显影剂载置体的间隔(以下简称为间隔)Ds则作为是对图像浓度等图像质量影响较大的一个要素。也就是说，若间隔Ds太大，则显影时调色剂从显影剂载置体向像载置体的移动变得困难，导致浓度不均匀。反之，若间隔Ds太小，在载体和调色剂2成分的显影剂中则发生显影剂堵塞，而在单调色剂1成分的显影剂中则出现从显影辊泄漏到感光体。

为了将间隔Ds的数值设定在一定，以往尝试了种种方法，一般采用间隙量器直接测定间隔Ds，或采用光束穿过处理盒上设有的透明窗口间接测定间隔Ds。

然而，采用间隙量器测定间隔Ds之方法，其中，为了不干涉周围部件且不损伤像载置体表面地进行测定的话则存在难度，而采用光束的方法，其中，窗口的污染或损伤给测定带来困难，存在一些问题。

针对这些问题，有一种光学性的测定方法被建议，其中，不在处理盒上设窗口，而是使光束穿过一个开放的空间，用该结构来测定处理盒的像载置体和显影剂载置体的间隔(例如，请参照专利文献1)。

图7是专利文献1中记载的处理盒100的截面示意图。处理盒100中，感光体鼓10、显影装置20、清洁装置30以及带电辊40由框体100b支撑。显影装置20中对着感光体鼓10的位置上配设有显影辊24。

图7所示处理盒100具有的结构，是在能够从处理盒100的外部，穿过看到感光体鼓10和显影辊24这2个圆筒体表面之间隔Ds的位置上，设开口30a、30b。

但是，为了在能够从外部穿过看到间隔Ds的位置上设开口30a、30b，有必要确保垂直于连结面地穿过间隔Ds内的范围作为光束的光路K，上述连结面是连结感光体鼓10和显影辊24之2个旋转轴中心线的面。也就是说产生一个限制，即在该范围内不能设置部件而必须形成空间。该限制对于满足由于近年图像形成装置小型化和多功能化等出现的多种要求来说，给处理盒以及构成其周边部件的设计上带来很大限制。

专利文献1：特开平5-323693号公报。

发明内容

本发明的目的在于解决上述问题，提供一种测定方法以及处理盒，其中，能够用简单的操作容易地进行间隔Ds的测定，且不给处理盒以及其周边部件的设计上带来过大的限制。

本发明的目的能够通过采用下述测定方法以及处理盒达成。

1.一种处理盒的间隔测定方法，其中，对于至少备有像载置体和显影剂载置体的处理盒，采用发光元件和受光元件，测定所述像载置体和所述显影剂载置体的间隔，处理盒间隔测定方法的特征在于，通过光路变更部件使所述发光元件发出的光改变光路，且使所述光穿过所述像载置体和所述显影剂载置体之间，测定所述间隔。

2.一种处理盒，其特征在于，用1中记载的处理盒的间隔测定方法，测定所述像载置体和所述显影剂载置体的间隔。

通过采用本发明涉及的测定方法以及由该测定方法测定的处理盒，能够提供一种用简单操作能够容易地进行测定，且不给处理盒的设计上带来过大制约的测定方法以及处理盒。

附图说明

图1：装有本发明涉及的处理盒的图像形成装置之彩色图像形成装置的整体结构概要示意图。

图2：用来对本发明涉及的处理盒的第1实施方式，说明其结构和测定间隔Ds的测定方法的截面图。

图3：用来对本发明涉及的处理盒的第2实施方式，说明其结构和测定间隔Ds的测定方法的截面图。

图4：用来对本发明涉及的第1、第2实施方式的处理盒中测定感光体鼓和显影辊之间隔Ds时的测定夹具作说明的概略图。

图5：本发明涉及的第1、第2实施方式的处理盒中测定感光体鼓和显影辊之间隔Ds的操作顺序流程示意图。

图6：本发明涉及的第3实施方式的处理盒中测定感光体鼓和显影辊之间隔Ds的操作顺序流程示意图。