[发明专利]半导体装置及其制作方法有效
| 申请号: | 200810131572.8 | 申请日: | 2008-07-17 |
| 公开(公告)号: | CN101630680A | 公开(公告)日: | 2010-01-20 |
| 发明(设计)人: | 张睿钧 | 申请(专利权)人: | 世界先进积体电路股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L23/522;H01L21/82;H01L21/762;H01L21/768 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
| 地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本发明提供一种半导体装置及其制作方法,该半导体装置包括:一基底;一绝缘埋层,形成于该基底内;至少一深沟渠绝缘结构,形成于该绝缘埋层上;以及一深沟渠接触结构,形成于所述这些深沟渠绝缘结构之间,且该深沟渠接触结构与于位于该绝缘埋层下的该基底电性连接。包含未掺杂的多晶硅的绝缘材料,其可缓冲由于外延层与包含氧化物的衬垫层彼此之间的晶格差异度大,而在接合界面处产生的应力,因此能够提升元件的稳定性及其功效。深沟渠接触结构可利用形成与元件电性连接的接触插塞的工艺予以形成,因此深沟渠接触结构可与接触插塞以相同的工艺同时形成,而不需要进行额外的工艺步骤,因此能达到降低成本的目的。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于,所述半导体装置包括:一基底;一绝缘埋层,形成于所述基底内;至少一深沟渠绝缘结构,形成于所述绝缘埋层上;以及一深沟渠接触结构,形成于所述这些深沟渠绝缘结构之间,且所述深沟渠接触结构与于位于所述绝缘埋层下的所述基底电性连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





