[发明专利]半导体存储装置有效

专利信息
申请号: 200810131164.2 申请日: 2008-07-30
公开(公告)号: CN101425329A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 黑田直喜 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11C11/34 分类号: G11C11/34;G11C11/4091;G11C11/4093
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种半导体存储装置。设有:连接在存储器阵列(1)的数据线DL、XDL上的数据线用读出放大器/写入缓冲器(6)、连接在虚设存储器阵列(2)的虚设数据线DDL、XDDL上的数据线用读出放大器控制信号生成逻辑电路。利用该逻辑电路(7)的输出信号来启动读出放大器(6)。因此,在动态随机存取存储器(DRAM)那样的利用位线将动态数据放大并读出的半导体存储装置中,能够实现高速的存取,且很容易地就能够实现各种存储器规格。
搜索关键词: 半导体 存储 装置
【主权项】:
1. 一种半导体存储装置,其特征在于:包括:存储单元、与所述存储单元相连接的字线与位线、与所述位线连接的第一读出放大器、虚设存储单元、与所述虚设存储单元连接的虚设位线、与所述虚设位线连接的第二读出放大器、与所述第一读出放大器连接的数据线、与所述数据线连接的第三读出放大器、与所述第二读出放大器连接的虚设数据线、以及与所述虚设数据线连接的逻辑电路,所述逻辑电路的输出信号是启动所述第三读出放大器的输入信号。
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