[发明专利]一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法有效

专利信息
申请号: 200810119478.0 申请日: 2008-09-01
公开(公告)号: CN101349721A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: 苏东林;戴飞;宋振飞;谢树果;高万峰;史德民 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京永创新实专利事务所 代理人: 周长琪
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法,该消除方法应用了场的叠加原理以及偶极子天线辐射模型,通过采集不同距离的两个测试点上的相关量运用消除环境电平模块进行远场或近场情况的分析,从而可以近似求解出被试品在第一测试点A产生的辐射发射。所述电磁辐射发射自动测试所需的仪器有接收天线、EMI接收机和PC机,接收天线连接在EMI接收机的输入端接口上,PC机连接在EMI接收机的控制接口上;所述PC机存储有由近远场判断单元、远场分析单元和近场分析单元构成的消除环境电平模块。本发明消除环境电平的方法可以解决从复杂电磁环境下测试结果提取出被试品的辐射发射,有效地排除非标准测试条件下背景环境电平对测试结果的影响。
搜索关键词: 一种 适用于 电磁辐射 发射 自动 测试 消除 环境 电平 方法
【主权项】:
1、一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法,所述电磁辐射发射自动测试所需的仪器有接收天线、EMI接收机和PC机,接收天线连接在EMI接收机的输入端接口上,PC机连接在EMI接收机的控制接口上;其特征在于:所述的PC机存储有消除环境电平模块;所述消除环境电平模块包括有近远场判断单元、远场分析单元和近场分析单元;所述近远场判断单元用于根据第一测试点A与被试品的距离dA、测试频段的中心频率f0与近远场分界点d0进行分析获得第一测试点A是否属于远场或者是近场;所述远场分析单元根据场的叠加原理和偶极子天线远场辐射模型对第一测试点A与被试品的距离dA、第二测试点B与被试品的距离dB、背景环境电平N、A点测试辐射信号EA、B点测试辐射信号EB进行场量提取Q远场获得排除背景环境电平N影响的A点产生的辐射发射SA;场量提取+[(cosωRc-1C1)SA2+(N2-EA2)cosωRc-C1(N2-EB2)]2;]]>-4N2sin2ωRcSA2=0]]>所述近场分析单元根据场的叠加原理和偶极子天线近场辐射模型对第一测试点A与被试品的距离dA、第二测试点B与被试品的距离dB、背景环境电平N、A点测试辐射信号EA、B点测试辐射信号EB进行场量提取Q近场获得排除背景环境电平N影响的A点产生的辐射发射SA;场量提取+[(cosωRc-1C2)SA2+(N2-EA2)cosωRc-C2(N2-EB2)]2.]]>-4N2sin2ωRcSA2=0]]>
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