[发明专利]一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种对电磁辐射测试结果进行分析的方法，更特别地说，是指一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法。该消除方法能够消除背景环境电平对辐射测试结果的影响。

背景技术

电磁辐射发射是指设备中的某个部件、天线、电缆或者连接件辐射出来的、通过空间传播的有意或无意的电磁能量。

电磁辐射发射测试的目的在于测量由电子、电气及机电设备所辐射的电磁辐射发射，检测被试品干扰辐射场强，从而判断其电磁兼容性(EMC)。电磁辐射发射自动测试系统一般由接收天线、EMI(电磁干扰)接收机和PC机组成(参见图1所示)，接收天线连接在EMI(电磁干扰)接收机的输入端接口上，PC机连接在EMI(电磁干扰)接收机的控制接口上；其中接收天线用于接收电磁辐射干扰电压U_E，EMI接收机一方面用于接收天线接收到的电磁辐射干扰电压U_E，另一方面对接收到的电磁辐射干扰电压U_E经天线系数AF修正为相应的电场强度E输出给PC机；PC机一方面对接收的电场强度E进行处理，另一方面输出控制指令H_h对EMI接收机进行参数设置。

电磁辐射测试主要测试在一定距离、一定高度下被试品的辐射发射强度，包括电场强度和磁场强度，记录辐射发射强度以及相应的测试频率，并判断是否超过相应电磁兼容标准规定的极限值。

测试场地的环境电平对电磁辐射发射测试结果的影响很大，因为环境电平会发生与被试品产生的辐射发射叠加。当环境电平比较复杂时就无法从测试结果中判断被试品的辐射发射，从而使测试结果的准确性大大降低。

标准的电磁辐射发射测试对测试场地等都作了严格的规定，标准环境下的测试费用非常昂贵，但对于大多数单位建设自己的电磁兼容测试场地不太现实，更重要的是很多情况下需要在环境电平比较复杂的现场进行设备的电磁辐射发射预测试，所以解决从复杂电磁环境下电磁辐射发射测试结果提取出被试品的辐射发射，排除非标准测试条件下环境电平对测试结果的影响意义重大。

发明内容

本发明的目的是一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法，该消除方法应用了场的叠加原理以及偶极子天线辐射模型，通过采集不同距离的两个测试点上的相关量运用消除环境电平模块进行远场或近场情况的分析，从而可以近似求解出被试品在第一测试点A产生的辐射发射。

本发明是一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法，所述电磁辐射发射自动测试所需的仪器有接收天线、EMI接收机和PC机，接收天线连接在EMI接收机的输入端接口上，PC机连接在EMI接收机的控制接口上；所述的PC机存储有消除环境电平模块；所述消除环境电平模块包括有近远场判断单元、远场分析单元和近场分析单元；

所述近远场判断单元用于根据第一测试点A与被试品的距离d_A、测试频段的中心频率f₀与近远场分界点d₀进行分析获得第一测试点A是否属于远场或者是近场；

所述远场分析单元根据场的叠加原理和远场天线辐射模型对第一测试点A与被试品的距离d_A、第二测试点B与被试品的距离d_B、背景环境电平N、A点测试辐射信号E_A、B点测试辐射信号E_B进行场量提取Q_远场获得排除背景环境电平N影响的A点产生的辐射发射S_A；场量提取