[发明专利]一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法有效

专利信息
申请号: 200810119478.0 申请日: 2008-09-01
公开(公告)号: CN101349721A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: 苏东林;戴飞;宋振飞;谢树果;高万峰;史德民 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京永创新实专利事务所 代理人: 周长琪
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 适用于 电磁辐射 发射 自动 测试 消除 环境 电平 方法
【权利要求书】:

1.一种适用于电磁辐射发射自动测试中消除环境电平的方法,其特征在于包括有下列步骤:

第一步:电磁辐射发射自动测试系统初始化完成;

第二步:设置两个测试点位置

设置第一测试点A,该第一测试点A距离被试品的距离dA=λ/20~50λ,λ为测试频段的中心频率f0对应的波长,波长单位为米;

设置第二测试点B,该第二测试点B距离被试品的距离dB=λ/10~100λ,且dB>dA,λ为测试频段的中心频率f0对应的波长,波长单位为米;

第三步:采集两个测试点的相关量

采集第一测试点A的被试品未工作状态下的背景环境电平N、被试品工作状态下A点测试辐射信号EA

采集第二测试点B的被试品工作状态下B点测试辐射信号EB

对于上述三个物理量的采集应当满足两个条件:一是测试频段相同,二是由PC机下发给接收机的控制指令Hh相同;

第四步:近远场判断

根据第二步获得的第一测试点A与被试品的距离dA

根据PC机设置的测试频段的中心频率f0

将dA与近远场分界点进行比较获得第一测试点A属于远场或者是近场,c表示被试品所在测试环境的光速,且c=3×108m/s;

当dA>d0时,第一测试点A属于远场;转入第五步处理;

当dA≤d0时,第一测试点A属于近场;转入第六步处理;

第五步:远场分析获得被试品工作状态下的辐射发射

将第二步获得的第一测试点A与被试品的距离dA

第二步获得的第二测试点B与被试品的距离dB

第三步获得的背景环境电平N;

第三步获得的A点测试辐射信号EA

第三步获得的B点测试辐射信号EB

根据场的叠加原理和偶极子天线远场辐射模型进行场量提取Q远场获得排除背景环境电平N影响的A点产生的辐射发射SA

场量提取Q远场的关系式为:

ω表示解析频点f对应的角频率,且ω=2πf,解析频点f是指被试品发射的辐射频率中的待分析的任一频点;

R表示第一测试点A与第二测试点B之间的距离,且R=dB-dA

SA表示被试品工作状态下第一测试点A产生的辐射发射;

N表示被试品在未工作状态下的背景环境电平;

EA表示被试品在工作状态下,在第一测试点A测试得到的辐射信号;

C1表示测试点的远场比值系数,且C1=dB/dA

EB表示被试品在工作状态下,在第二测试点B测试得到的辐射信号;

第六步:近场分析获得被试品工作状态下的辐射发射

将第二步获得的第一测试点A与被试品的距离dA

第二步获得的第二测试点B与被试品的距离dB

第三步获得的背景环境电平N;

第三步获得的A点测试辐射信号EA

第三步获得的B点测试辐射信号EB

根据场的叠加原理和偶极子天线远场辐射模型进行场量提取Q近场获得排除背景环境电平N影响的A点产生的辐射发射SA

场量提取Q近场的关系式为:

C2表示测试点的近场比值系数,且C2=(dB/dA)3

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