[发明专利]半导体集成装置

摘要

本发明提供一种半导体集成装置，其在利用内部振荡电路进行动作的半导体集成装置的测试模式中，不设置测试专用的外部时钟端子即可进行逻辑测试。半导体集成装置设置有：内部振荡电路(14)，其进行振荡来输出时钟信号；逻辑电路(12)，其在通常动作模式中，与所述时钟信号同步地将取入对象的数据信号取入，在测试模式中，在规定定时输出用于停止所述时钟信号的提供的停止信号，并在输出了该停止信号后与外部之间进行取入对象的数据信号的传送；以及控制电路(16、18、20)，其在通常动作模式中控制成使所述时钟信号提供给所述逻辑电路(12)，在测试模式中，在所述停止信号被输出后，控制成使时钟信号不提供给所述逻辑电路(12)。

主权项

1.一种半导体集成装置，该半导体集成装置包括：内部振荡电路，其进行振荡来输出时钟信号；逻辑电路，其在通常动作模式中，与所述时钟信号同步地将取入对象的数据信号取入，在测试模式中，在规定定时输出用于停止所述时钟信号的提供的停止信号，在输出了该停止信号后与外部之间进行取入对象的数据信号的传送；以及控制电路，其在所述通常动作模式中，控制成使所述时钟信号提供给所述逻辑电路，在所述测试模式中，在所述停止信号被输出后，控制成使所述时钟信号不提供给所述逻辑电路。