[发明专利]半导体集成装置无效

专利信息
申请号: 200810100736.0 申请日: 2008-05-20
公开(公告)号: CN101324654A 公开(公告)日: 2008-12-17
发明(设计)人: 的场健二郎 申请(专利权)人: 冲电气工业株式会社
主分类号: G01R31/3177 分类号: G01R31/3177
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 集成 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体集成装置,该半导体集成装置包括:

内部振荡电路,其进行振荡来输出时钟信号;

逻辑电路,其在通常动作模式中,与所述时钟信号同步地将取入对象的数据信号取入,在测试模式中,在规定定时输出用于停止所述时钟信号的提供的停止信号,在输出了该停止信号后与外部之间进行取入对象的数据信号的传送;以及

控制电路,其在所述通常动作模式中,控制成使所述时钟信号提供给所述逻辑电路,在所述测试模式中,在所述停止信号被输出后,控制成使所述时钟信号不提供给所述逻辑电路。

2.根据权利要求1所述的半导体集成装置,

所述逻辑电路还在所述测试模式中,在所述数据信号的传送结束后输出用于再次开始提供所述时钟信号的再次开始信号,

所述控制电路还在所述测试模式中,在所述再次开始信号被输出后控制成再次开始对所述逻辑电路提供所述时钟信号。

3.根据权利要求1或2所述的半导体集成装置,

在所述测试模式中由所述逻辑电路进行的所述数据信号的传送是从外部对所述逻辑电路内部的数据输入,

所述规定定时是所述逻辑电路将所述取入对象的数据信号取入前的定时。

4.根据权利要求3所述的半导体集成装置,

在所述测试模式中,从外部输入包含有取入对象的数据信号和定时信号的外部信号,

该半导体集成装置还具有分离电路,该分离电路将所述输入的外部信号分离成数据信号和定时信号,

所述逻辑电路在所述测试模式中,与所述分离后的定时信号同步地输入所述分离后的取入对象的数据信号。

5.根据权利要求1或2所述的半导体集成装置,

在所述测试模式中由所述逻辑电路进行的所述数据信号的传送是从所述逻辑电路内部相对于外部的数据输出,

所述规定定时是所述逻辑电路将所述取入对象的数据信号取入后的定时。

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