[发明专利]绝缘膜材料、多层互连结构及其制造方法和半导体器件的制造方法有效

专利信息
申请号: 200810081281.2 申请日: 2008-02-26
公开(公告)号: CN101257003A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 小林靖志;中田义弘;尾崎史朗 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: H01L23/532 分类号: H01L23/532;H01L21/768;H01L21/312;H01B3/18;C07F7/18
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 张龙哺;冯志云
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种绝缘膜材料,其适用于形成介电常数低且耐损性(例如抗蚀性和液体试剂抗性)优异的绝缘膜,还提供一种减少了互连间的寄生电容的多层互连结构,还提供一种有效制造多层互连结构的方法,以及一种有效制造高速和可靠性高的半导体器件的方法。所述绝缘膜材料至少包含由上述结构式(1)表示的立体结构的硅化合物,其中,R1、R2、R3和R4可以相同或不同,且其中至少一个表示含有烃和不饱和烃中任何一种的官能团。
搜索关键词: 绝缘 材料 多层 互连 结构 及其 制造 方法 半导体器件
【主权项】:
1.一种绝缘膜材料,其包括:由下述结构式(1)表示的立体结构的硅化合物:结构式(1)其中,R1、R2、R3和R4相同或不同,且,R1、R2、R3和R4中至少一个表示包括烃和不饱和烃中任何一种的官能团。
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