[发明专利]一种具有离散多晶栅结构的静电保护电路无效

专利信息
申请号: 200810035346.X 申请日: 2008-03-28
公开(公告)号: CN101257018A 公开(公告)日: 2008-09-03
发明(设计)人: 单毅 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/60
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所 代理人: 屈蘅
地址: 201203上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种具有离散多晶栅结构的静电保护电路,该静电保护电路用于保护CMOS集成芯片,它包括具有有源区的静电放电元件,该静电放电元件接在CMOS集成芯片的I/O焊盘与地之间;静电放电元件触发部分的有源区与CMOS集成芯片的I/O焊盘连接,数个离散的多晶栅将所述与CMOS集成芯片的I/O焊盘连接的静电放电元件触发部分的有源区离散成数个MOS管,数个离散的多晶栅浮置。该数个MOS管的漏区和阱之间采用LDD-HALO制作。通过离散多晶栅结构,可有效降低触发部分有源区到阱之间的导通电压,从而降低静电保护电路的触发电压;数个MOS管之间的电阻网络可保护触发部分有源区不受高静电脉冲的损害。
搜索关键词: 一种 具有 离散 多晶 结构 静电 保护 电路
【主权项】:
1、一种具有离散多晶栅结构的静电保护电路,所述静电保护电路用于保护CMOS集成芯片,所述静电保护电路包括具有有源区的静电放电元件,所述静电放电元件接在所述CMOS集成芯片的I/O焊盘与地之间;所述静电放电元件触发部分的有源区与所述CMOS集成芯片的I/O焊盘连接,所述静电放电元件触发部分的有源区制作在阱上,其特征在于,数个离散的多晶栅将所述与CMOS集成芯片的I/O焊盘连接的静电放电元件触发部分的有源区离散成数个MOS管,所述数个离散的多晶栅浮置。
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