[发明专利]半导体装置,以及用于测试半导体装置的测试电路和测试方法无效
| 申请号： | 200810003472.7 | 申请日： | 2008-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN101226221A | 公开（公告）日： | 2008-07-23 |
| 发明（设计）人： | 中平政男 | 申请（专利权）人： | 恩益禧电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H04L7/02 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 关兆辉;孙志湧 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种半导体装置包括CDR(时钟数据恢复)电路16以及频率跟踪控制电路(15)。该CDR(时钟数据恢复)电路(16)对与展频时钟同步输入的串行数据进行时钟数据恢复。该频率跟踪控制电路(15)控制该CDR电路能够跟踪的频率的带宽。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 以及 用于 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，包括：CDR(时钟数据恢复)电路，被配置为对与展频时钟同步输入的串行数据进行时钟数据恢复；以及频率跟踪控制电路，被配置为控制所述CDR电路能够跟踪的频率的带宽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于恩益禧电子股份有限公司，未经恩益禧电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810003472.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：视波表
- 下一篇：含有含氟化合物并具有提高的抗油性和粘合性的纸基材
