[发明专利]半导体装置,以及用于测试半导体装置的测试电路和测试方法

权利要求书

1.一种半导体装置，包括：

CDR(时钟数据恢复)电路，被配置为对与展频时钟同步输入的串行数据进行时钟数据恢复；以及

频率跟踪控制电路，被配置为控制所述CDR电路能够跟踪的频率的带宽。

2.根据权利要求1的半导体装置，还包括：

串行器，被配置为将第一并行数据转换为所述串行数据，并与所述展频时钟同步地输出所述串行数据；

解串器，被配置为将所述串行数据转换为第二并行数据，并与同步时钟同步地输出所述第二并行数据，其中该同步时钟是由所述CDR电路从所述串行数据中恢复的；以及

模式比较器，被配置为将所述第一并行数据与所述第二并行数据进行比较，并输出比较结果。

3.根据权利要求1的半导体装置，其中所述CDR电路包括：

相位检测器，被配置为将所述串行数据的相位与所述同步时钟的相位进行比较；

模式发生器，被配置为根据所述相位检测器的比较结果来生成模式数据；以及

相位插值器，被配置为根据所述模式数据来对参考时钟的相位进行插值，并输出所插值的参考时钟作为所述同步时钟，

其中所述模式发生器包括：

向上/向下计数器，被配置为根据所述相位检测器的所述比较结果来向上计数或向下计数，

其中所述模式发生器根据所述向上/向下计数器中的值生成所述模式数据，

其中所述频率跟踪控制电路将控制信号输出给所述模式发生器，以设置所述向上/向下计数器的上限值和/或下限值。

4.一种用于测试半导体装置的测试电路，包括：

半导体装置，被配置为包括：

CDR(时钟数据恢复)电路，被配置为对与展频时钟同步输入的串行数据进行时钟数据恢复，

频率跟踪控制电路，被配置为控制所述CDR电路能够跟踪的频率的带宽，

串行器，被配置为将第一并行数据转换为所述串行数据，并与所述展频时钟同步地输出所述串行数据，

解串器，被配置为将所述串行数据转换为第二并行数据，并与同步时钟同步地输出所述第二并行数据，其中该同步时钟是由所述CDR电路从所述串行数据中恢复的，以及

模式比较器，被配置为将所述第一并行数据与所述第二并行数据进行比较，并输出比较结果；以及

测试器，被配置为根据所述模式比较器的所述比较结果来判断生成所述展频时钟的展频时钟发生器是否出现异常。

5.根据权利要求4的用于测试半导体装置的测试电路，其中所述CDR电路包括：

相位检测器，被配置为将所述串行数据的相位与所述同步时钟的相位进行比较；

模式发生器，被配置为根据所述相位检测器的比较结果来生成模式数据；以及

相位插值器，被配置为根据所述模式数据来对参考时钟的相位进行插值，并输出所插值的参考时钟作为所述同步时钟，

其中所述模式发生器包括：

向上/向下计数器，被配置为根据所述相位检测器的所述比较结果来向上计数或向下计数，

其中所述模式发生器根据所述向上/向下计数器中的值生成所述模式数据，

其中所述频率跟踪控制电路将控制信号输出给所述模式发生器，以设置所述向上/向下计数器的上限值和/或下限值。

6.根据权利要求4的用于测试半导体装置的测试电路，其中当所述第一并行数据与所述第二并行数据一致时，所述模式比较器输出表示通过的第一结果信号作为所述比较结果，并且当所述第一并行数据与所述第二并行数据不一致时输出表示故障的第二结果信号作为所述比较结果，

所述频率跟踪控制电路控制所述频率的带宽，使得当以希望的频率来调制所述展频时钟时输出所述第二结果信号，以及

当在预定时间内没有输入所述第二结果信号时，所述测试器判断所述展频时钟发生器异常。