[发明专利]用于对电气元件进行测试的测试头无效
| 申请号： | 200780043761.3 | 申请日： | 2007-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN101595391A | 公开（公告）日： | 2009-12-02 |
| 发明（设计）人： | F·L·沃恩二世;D·G·梅策尔 | 申请（专利权）人： | STS仪器公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 温大鹏;曹 若 |
| 地址： | 美国俄克*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于测试电子零件的测试头(100)，所述测试头包括底部(200)，所述底部具有用于接收接触支架组件(300)的径向狭槽(220)。所述接触支架组件(300)被可拆卸地安装到所述底部上并且是径向可调的以便测试具有不同直径和整流条数量的零件。所述接触支架组件(300)分别包括活塞缸(310)并分别可拆卸地接收接触探针组件(400)，所述接触探针组件承载着多个易于更换的弹簧加载的接触探针(420)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电气 元件 进行 测试 | ||
【主权项】：
1、一种用于测试电气元件的测试头，所述测试头包括：具有呈平面的表面的底部；至少一个接触支架组件，所述至少一个接触支架组件被可拆卸地且可调节地连接到所述底部上以便实现相对于所述底部的径向调节；被安装到所述接触支架组件上的活塞缸；和被可拆卸地且可滑动地安装到所述接触支架组件上的至少一个接触探针组件，所述接触探针组件被布置以便通过所述活塞缸的致动而沿径向朝着所述底部的中心被驱动。
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