[发明专利]用于对电气元件进行测试的测试头

权利要求书

1.一种用于测试电气元件的测试头，所述测试头包括：

具有呈平面的表面的底部；

至少一个接触支架组件，所述至少一个接触支架组件被可拆卸地且 可调节地连接到所述底部上以便实现相对于所述底部的径向调节；

被安装到所述接触支架组件上的活塞缸；和

被可拆卸地且可滑动地安装到所述接触支架组件上的至少一个接 触探针组件，所述接触探针组件被布置以便通过所述活塞缸的致动而沿 径向朝着所述底部的中心被驱动；

其中所述底部包括至少一条径向狭槽，所述接触支架组件被可滑动 地接收在所述径向狭槽中。

2.根据权利要求1所述的测试头，其中所述接触探针组件包括：

被构造以便与所述活塞缸的活塞头相接合的弹簧探针接收器；和

被接收在所述弹簧探针接收器的端部部分中的至少一个偏置弹簧 探针。

3.根据权利要求1所述的测试头，其中所述接触支架组件包括接 收部分，所述接收部分用于可拆卸地且可滑动地接收被安装在其上的所 述接触探针组件。

4.根据权利要求3所述的测试头，其中所述接触支架组件的所述 接收部分是搭扣配合件。

5.根据权利要求1所述的测试头，其中所述接触支架组件包括可 在所述径向狭槽内滑动的至少一个支架销。

6.根据权利要求5所述的测试头，其中所述接触支架组件进一步 包括：

至少一个底座，所述至少一个底座用于与所述底部接合从而通过所 述底座防止所述接触支架组件沿径向被调节。

7.根据权利要求6所述的测试头，其中所述底部进一步包括：

用以指示所述接触支架组件的适当的径向放置处的标记。

8.根据权利要求1所述的测试头，其中改变接触探针组件和接触 支架组件的数量使得可对不同的电气元件进行测试，所述不同的电气元 件具有不同的整流条数量。

9.一种用于测试电气元件的测试头，所述测试头包括：

具有至少一条径向狭槽的底部；

至少一个接触支架组件，所述接触支架组件被可拆卸地且可调节地 连接到所述径向狭槽上以便相对于所述底部对所述接触支架组件进行 径向调节；

包括被安装到所述接触支架组件上的活塞头的活塞缸；和

至少一个接触探针组件，所述接触探针组件包括被构造以便与所述 活塞头相接合的弹簧探针接收器和被接收在所述弹簧探针接收器的端 部部分中的至少一个偏置弹簧探针，所述接触探针组件被可拆卸地且可 滑动地安装到所述接触支架组件上，所述接触探针组件被布置以便通过 所述活塞缸的致动而沿径向朝着所述底部的中心被驱动。

10.根据权利要求9所述的测试头，其中所述接触支架组件包括可 在所述径向狭槽内滑动的至少一个支架销。

11.根据权利要求10所述的测试头，其中所述接触支架组件进一 步包括：

至少一个底座，所述至少一个底座用于与所述底部接合从而通过所 述底座防止所述接触支架组件沿径向被调节。

12.根据权利要求11所述的测试头，其中所述底部进一步包括：

用以指示所述接触支架组件的适当的径向放置处的标记。

13.根据权利要求9所述的测试头，其中改变接触探针组件和接触 支架组件的数量使得可对不同的电气元件进行测试，所述不同的电气元 件具有不同的整流条数量。