[发明专利]用于对电气元件进行测试的测试头

说明书

技术领域

本发明主要涉及电子元件测试领域，且更具体而言，本发明涉及 用于对电气元件进行测试的测试头领域。

背景技术

测试头与测试系统相结合地被使用以便确定电气元件和电气零件 的适当功能性。测试头是介于测试系统与被测试装置之间的连结装置 并确保了与被测试装置的适当连接。

测试头的典型应用是对电机电枢中的整流条和线圈进行测试。通 常情况下，测试头仅可用于具有单一限定尺寸的元件。因此，测试具 有不同尺寸直径的不同元件需要多个测试头。此外，测试头通常被设 计以便测试具有单一限定的整流条数量的元件。同样地，测试具有不 同整流条数量的元件也需要不同的测试头。

常规的测试头价格昂贵且制造耗时，这是因为常规测试头的制造 需要熟练的机械师来完成且需要使用昂贵的机械车间设备。此外，由 于测试不同尺寸的元件和具有不同整流条数量的元件需要许多不同尺 寸的测试头，因而使得费用进一步升高。

本发明所披露的测试头由于相对易于制造及其固有的可调节性而 解决了前述问题中的许多问题，正如在以下讨论中将会更充分地说明 地那样。

发明内容

为了克服常规测试头的缺点，本发明提供了涉及所发明测试头的 不同的实施例，所述测试头可用于测试具有不同尺寸直径的不同元件 并可用于测试具有不同整流条数量的不同元件。

在第一实施例中，所述测试头包括底部部分和被可拆卸地安装到 多个接触支架组件上的多个接触探针组件。所述接触支架组件被可拆 卸地安装到所述底部上，以便可相对于所述底部沿径向调节所述接触 支架组件。

在另一实施例中，所述测试头可具有被安装在所述多个接触支架 组件中的每个接触支架组件上的活塞缸。当所述活塞缸被致动时，所 述接触探针组件沿径向方向朝着所述测试头的中心被驱动以便接触 要被测试的元件，如电枢上的整流条。

在又一实施例中，所述接触探针组件中的每个接触探针组件可包 括用于接收多个偏置弹簧探针的弹簧探针接收器。所述弹簧探针接收 器可被构造以便与所述活塞缸的活塞头相接合，这例如是通过使所述 弹簧探针接收器设有凹进的接收部分或搭扣配合部分而实现的。

在再一实施例中，所述测试头的所述接触支架组件可分别具有用 于接收所述接触探针组件中的一个接触探针组件的接收部分。所述接 收部分可包括搭扣配合装置从而使得所述接触探针组件搭扣配合入所 述接触支架组件的所述接收部分内。

在另一实施例中，所述测试头可包括位于所述底部部分中的多条 径向狭槽。每个接触支架组件可包括被接收在其中一条狭槽内的多个 支架销，从而使得所述支架销可在所述狭槽内沿径向移动或滑动。因 此，所述接触支架组件相对于所述底部部分是径向可调的。

在另一实施例中，所述接触支架组件可分别具有至少一个底座， 所述底座可用于将所述接触支架组件紧固到位于特定径向位置处的底 部上。可使用位于所述底部上的预置标记来帮助适当地安放所述接触 支架组件。例如，使所述底座与标记对齐可指示出所述接触支架组件 的适当位置。

在另一实施例中，接触探针和接触支架组件的数量可发生改变， 从而使得可使用相同的测试头对具有不同整流条数量的电气元件进行 测试。

所披露的实施例的众多优点之一是：能够使用相同的测试头对具 有不同直径的电气元件进行测试。此外，可使用相同的测试头对具有 不同整流条数量的元件进行测试，这是通过改变接触探针和支架探针 组件的数量、或通过改变接触探针组件的数量、或进一步通过改变被 致动的活塞缸的数量来实现的。

所属领域技术人员通过以下描述、所附权利要求书和附图将易于 认识到并能更好地理解本发明的改进型测试头的这些及其它优点。

附图说明

图1是测试头的一个实施例的顶部平面图，所述测试头处于部分组 装状态下以便更好地示出其特征；

图2是包括活塞缸的接触支架组件的侧视图；

图3是接触探针组件的侧视图；

图4是被安装到接触支架组件上的接触探针组件的侧视图，所述接 触支架组件被安装到底部上，且图中示出了所述底部的剖面；

图5是测试头的底部平面图，所述测试头处于部分组装状态下以便 更好地示出其特征。

应该注意，上述附图不一定是按比例进行绘制的，而是为了更好地 理解其元件而绘制的。