[发明专利]体积全息光记录介质、体积全息记录层形成用组合物、体积全息记录材料及体积全息光记录方法无效
| 申请号： | 200780030082.2 | 申请日： | 2007-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN101501579A | 公开（公告）日： | 2009-08-05 |
| 发明（设计）人： | 三木康彰;伊东秀明 | 申请（专利权）人： | 三菱化学株式会社 |
| 主分类号： | G03H1/02 | 分类号： | G03H1/02;G11B7/244 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 | 代理人： | 刘香兰 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种具有吸湿性低的记录层的体积全息光记录介质。所述体积全息光记录介质由具有透明基板和记录层的多层结构构成，记录层含有树脂基质(A)及/或树脂基质(B)、和光活性化合物(C)，树脂基质(A)是由聚异氰酸酯(A1)和具有-(C＝O)O-基及/或-O(C＝O)O-基的多元醇(A2)反应而得到的树脂基质，树脂基质(B)是由1分子具有2个以上的环氧基的环氧化合物(B1)和硬化剂(B2)反应而得到的树脂基质，并且所涉及的记录层的吸湿率在1.5重量％以下。 | ||
| 搜索关键词： | 体积 全息 记录 介质 形成 组合 材料 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种体积全息光记录介质，所述体积全息光记录介质由至少具有透明基板和记录层的多层结构构成，所述记录层含有合成树脂而构成，通过由于多束可干涉性光的照射而形成于该记录层内的干涉条纹，可进行三维的信息记录，其特征在于，所形成的所述记录层的吸湿率在1.5重量％以下。
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