[发明专利]带有使用JTAG接口的测试访问控制电路的IC电路无效

专利信息
申请号: 200780007349.6 申请日: 2007-02-21
公开(公告)号: CN101395488A 公开(公告)日: 2009-03-25
发明(设计)人: L·范德洛格特 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 康正德;刘 红
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种集成电路,包括具有JTAG接口(108)和测试访问端口(110)的第一电路部分(106)。第二电路部分(114)具有串行总线接口(112);并且测试访问控制电路(104)经该测试访问端口(110)连接到JTAG接口(108)。第一电路部分(106)经所述测试访问控制电路(104)连接到串行总线接口(112),并且该测试访问控制电路(104)是可编程的,响应于来自JTAG接口(108)的测试模式选择(TMS)信号而处于透明模式或测试模式。因此,提供了对隐藏的串行总线接口的通用访问,同时还保持了速度性能,从而在测试中的电路部分/设备仍然可以在设备规范下工作。
搜索关键词: 带有 使用 jtag 接口 测试 访问 控制电路 ic 电路
【主权项】:
1. 一种集成电路,包括:第一电路部分(106),其具有JTAG接口(108)和测试访问端口(110);第二电路部分(114),其具有串行总线接口(112);和测试访问控制电路(104),其经过测试访问端口(110)连接到JTAG接口(108),其中第一电路部分(106)经过测试访问控制电路(104)连接到串行总线接口(112),并且测试访问控制电路(104)是可编程的,其响应于来自JTAG接口(108)的测试模式选择(TMS)信号而处于透明模式或测试模式。
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