[发明专利]集成的分析测试元件有效

专利信息
申请号: 200780003249.6 申请日: 2007-01-17
公开(公告)号: CN101374459A 公开(公告)日: 2009-02-25
发明(设计)人: S·N·罗;C·C·拉尼 申请(专利权)人: 霍夫曼-拉罗奇有限公司
主分类号: A61B5/151 分类号: A61B5/151
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 温大鹏;何自刚
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 集成刺针的测试元件(LIT)包括具有构造成在组织内形成切口的切割端的切口形成构件。测试元件连接在切口形成构件上,以便测试来自于切口的流体。测试元件具有带有收集流体的样品开口的采样端。测试元件可从其中切口形成构件的切割端从测试元件的采样端缩回的第一状态弯曲到其中切割端的至少一部分延伸经过测试元件的采样端以便在组织内形成切口的第二状态。
搜索关键词: 集成 分析 测试 元件
【主权项】:
1.一种集成装置(30),包括:切口形成构件(32),具有构造成在组织内形成切口的切割端(58);测试元件(34),连接在切口形成构件(32)上以便测试来自于切口的流体;测试元件(34)具有采样端(38),采样端具有经由其中收集流体的样品腔室开口(54);以及测试元件(34)可从其中切口形成构件(32)的切割端(58)从测试元件(34)的采样端(38)缩回的第一状态弯曲到其中切割端(58)的至少一部分延伸经过测试元件(34)的采样端(38)以便在组织内形成切口的第二状态。
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