[实用新型]一种芯片老化测试系统

摘要

本实用新型适用于芯片测试领域，提供了一种芯片老化测试系统，该系统包括微控制器，以及与该微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器，以及与该电压源控制电路电连接的电压源电路。在本实用新型中，电压源控制电路在微控制器的控制下，控制电压源电路的电压的通和断，从而为芯片的老化测试提供了一使芯片在短时间内不断的经历上电和掉电过程的测试环境，信号检测电路检测该芯片老化测试数据，通过对该测试数据进行分析，即可得到芯片的老化性能，从而得到芯片的使用寿命。

主权项

1、一种芯片老化测试系统，其特征在于，所述系统包括微控制器，以及与所述微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器，以及与所述电压源控制电路电连接的电压源电路，所述输入控制电路向所述微控制器输入测试参数以及所述微控制器的模式控制指令；所述微控制器根据所述测试参数通过所述电压源控制电路控制所述电压源电路的输出电压；所述信号检测电路采集根据所述电压源电路的输出电压产生的测试数据，并将所述测试数据通过所述微控制器存储至所述存储器。