[实用新型]一种芯片老化测试系统

说明书

技术领域

本实用新型属于芯片测试领域，尤其涉及一种芯片老化测试系统。

背景技术

在芯片的使用过程中，例如LCD驱动芯片(也称为LCD Driver)等，由于该种芯片需要不断地经历上电和掉电的状态更替，久而久之，会使芯片老化，从而发生失效等后果。为了测试芯片能够承受的上电和掉电的冲击次数，以得到芯片的使用寿命，有必要提供一种能够让芯片快速进行上电和掉电冲击(间隔时间为几秒)的测试系统，为芯片老化测试提供一个让芯片快速老化的测试环境，从而测试出芯片的老化性能。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片老化测试系统，旨在解决现有技术存在的由于难以测试芯片的老化性能，而无法得知芯片的使用寿命的问题。

本实用新型是这样实现的，一种芯片老化测试系统，所述系统包括微控制器，以及与所述微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器，以及与所述电压源控制电路电连接的电压源电路，所述输入控制电路向所述微控制器输入测试参数以及所述微控制器的模式控制指令；所述微控制器根据所述测试参数通过所述电压源控制电路控制所述电压源电路的输出电压；所述信号检测电路采集根据所述电压源电路的输出电压产生的测试数据，并将所述测试数据通过所述微控制器存储至所述存储器。

在本实用新型中，电压源控制电路在微控制器的控制下，控制电压源电路输出的通、断，同时调节电压源电路中电压源信号的大小，使芯片在短时间内不断的经历上电和掉电的过程，从而为芯片的老化测试提供了一测试环境，信号检测电路检测该芯片老化测试数据，通过对该测试数据进行分析，即可得到芯片的老化性能，从而得到芯片的实用寿命。

附图说明

图1是本实用新型提供的芯片的老化测试系统的方框图；

图2是本实用新型提供的芯片的老化测试系统的电连接原理图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

在实用新型中，在微控制器的控制下，根据设置的测试参数，使芯片不断的经历上电和掉电的过程，从而提供了一使芯片迅速老化的测试环境，通过本实用新型提供的芯片老化测试系统可以测试出芯片的老化性能。

图1示出了本实用新型提供的芯片的老化测试系统的方框组成，为了便于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分。

输入控制电路10的输出端与微控制器20的输入端电连接，用以向微控制器20传输芯片老化测试所需的参数数据，并控制微控制器20的工作模式。输入控制电路10包括输入端口、输入信号采集电路和滤波电路，输入端口提供了输入信号采集电路与芯片老化测试系统外壳的按键相连接的接口，通过输入端口，输入信号采集电路可以采集用户通过按键输入的参数数据和微控制器20的工作模式控制指令。滤波电路对采集的参数数据进行滤波处理。其中芯片老化测试所需的参数数据包括芯片的上电电压、芯片上电保持时间以及芯片掉电保持时间。

微控制器20分别与输入控制电路10、电压源控制电路30、信号检测电路50、存储器60、显示驱动电路70以及传输控制电路80电连接，用以对芯片老化测试系统的上述电路单元的工作进行调配控制。微控制器20根据输入控制电路10传输的工作模式控制指令将其工作模式调整为与该工作模式控制指令对应的工作模式。再根据输入控制电路10传输的芯片老化测试所需的参数数据，调节电压源控制电路30的电路状态，并读取信号检测电路50中采集的测试数据，将该测试数据存储至存储器60。

电压源控制电路30的输入端与微控制器20的输出端电连接，其输出端与电压源电路40的输入端电连接。微控制器20通过调节电压源控制电路30的电路状态，来改变电压源电路40的输出电压。电压源电路40用以提供芯片老化测试所需的工作电压，其输出端与信号检测电路50的输入端电连接，该电压源电路40的电压输出可以通过外部电路的调节而改变。

信号检测电路50的输入端与电压源电路40的输出端电连接，其输出端与微控制器20的输入端电连接。信号检测电路50采集测试数据，并将采集的测试数据传输至微控制器20。

显示驱动电路70的输入端与微控制器20的输出端电连接，其在微控制器20的控制下，显示芯片老化测试系统的工作状态。