[实用新型]一种芯片老化测试系统无效

专利信息
申请号: 200720122403.9 申请日: 2007-08-22
公开(公告)号: CN201096847Y 公开(公告)日: 2008-08-06
发明(设计)人: 黄林;朱祥 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/28;G09G3/00;G02F1/13
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 代理人: 张全文
地址: 518119广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 老化 测试 系统
【权利要求书】:

1、一种芯片老化测试系统,其特征在于,所述系统包括微控制器,以及与所述微控制器电连接的输入控制电路、电压源控制电路、信号检测电路以及存储器,以及与所述电压源控制电路电连接的电压源电路,所述输入控制电路向所述微控制器输入测试参数以及所述微控制器的模式控制指令;所述微控制器根据所述测试参数通过所述电压源控制电路控制所述电压源电路的输出电压;所述信号检测电路采集根据所述电压源电路的输出电压产生的测试数据,并将所述测试数据通过所述微控制器存储至所述存储器。

2、如权利要求1所述的芯片老化测试系统,其特征在于,所述系统还包括与所述微控制器进行双向通信的传输控制电路,所述微控制器通过所述传输控制电路将所述存储器中的测试数据上传至PC机。

3、如权利要求2所述的芯片老化测试系统,其特征在于,所述传输控制电路包括RS232传输控制电路和RS232接口。

4、如权利要求1所述的芯片老化测试系统,其特征在于,所述系统还包括与所述微控制器电连接的驱动显示电路,所述驱动显示电路在所述微控制器的控制下,实时地显示所述芯片老化测试系统的工作状态。

5、如权利要求1所述的芯片老化测试系统,其特征在于,所述电压源控制电路为一非易失性数字电位器。

6、如权利要求1所述的芯片老化测试系统,其特征在于,所述电压源电路的电压可以通过外部电路的调节而改变。

7、如权利要求1所述的芯片老化测试系统,其特征在于,所述信号检测电路包括信号采样电路、信号放大电路和AD转换电路。

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