[发明专利]一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统

摘要

本发明是一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统。所述显微测量系统用渥拉斯顿棱镜作为光起偏器，把一束HeNe激光变成线偏振光，然后使线偏振光通过与其成45度夹角的光弹调制器，根据光学原理，偏振光变成50kHz调制的左右旋圆偏振光，圆偏振光照射样品，样品中产生自旋极化的电子；在反向电场的驱动下，铁磁金属向半导体中注入自旋极化电子，但是由于半导体在圆偏振光的照射下会有50％的自旋极化电子，从而会对注入的自旋极化电子产生磁阻效应；在正向电场的驱动下，半导体中光照产生的自旋极化电子向铁磁这边驱动，受铁磁中极化电子的影响，会滤除与其自旋方向相反的注入电子。

主权项

1. 一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统，其特征在于，包括：一HeNe激光器，用来激发样品(101)；一渥拉斯顿棱镜，把前面的激光器发出来的光调制成线偏振光(102)；一光弹调制器，把线偏振光调制成50kHz左旋和右旋圆偏振光，并提供锁相放大器(104)触发信号(103)；一锁相放大器，用来测量样品偏振相关电子输运电压(104)；一锁相放大器，用来测量样品光伏电压(105)；一数字电压表，测量样品直流偏压(106)；一恒流源，用来给样品施加偏置电流(107)；一显微物镜，用来聚焦激光，使其照射到样品上(108)；一斩波器，调制入射光强，并提供锁相放大器(105)触发信号(109)；一白光光源，用来照射样品，以便于摄像机和显示器(112)能清楚显示激光照射样品的位置(110)；一两个半反半透镜组，用来把激光和白光汇合后照射样品，且把反射光成像到摄像机和显示器(111)；一摄像机和显示器，用来显示和记录激光照射样品位置(112)；一可变磁场样品座，安放样品的地方，且施加不同磁场于样品上(113)。