[发明专利]一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统

权利要求书

1.一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统，其特征在于，包括：

一HeNe激光器(101)，用来激发样品；

一渥拉斯顿棱镜(102)，把前面的激光器发出来的光调制成线偏振光；

一光弹调制器(103)，把线偏振光调制成50kHz左旋和右旋圆偏振光，并提供第一锁相放大器(104)触发信号；

一第一锁相放大器(104)，用来测量样品偏振相关电子输运电压；

一第二锁相放大器(105)，用来测量样品光伏电压；

一数字电压表(106)，测量样品直流偏压；

一恒流源(107)，用来给样品施加偏置电流；

一显微物镜(108)，用来聚焦激光，使其照射到样品上；

一斩波器(109)，调制入射光强，并提供第二锁相放大器(105)触发信号；

一白光光源(110)，用来照射样品，以便于摄像机和显示器(112)能清楚显示激光照射样品的位置；

一两个半反半透镜组(111)，用来把激光和白光汇合后照射样品，且把反射光成像到所述摄像机和显示器(112)；

一所述摄像机和显示器(112)，用来显示和记录激光照射样品位置；

一可变磁场样品座(113)，安放样品的地方，且施加不同磁场于样品上。

2.根据权利要求1所述的一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统，其特征在于，用经过光弹调制器(103)后变成的左旋和右旋交替变化的偏振光激发样品，在半导体中得到自旋极化电子，通过恒流源(107)调控半导体中电子的流向，外加磁场控制铁磁金属的磁化强度方向；利用第一锁相放大器(104)、第二锁相放大器(105)和数字电压表(106)测量出固定磁场中，不同大小和方向偏压下，电子自旋的注入和滤波效率。

3.根据权利要求1或2所述的一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统，其特征在于，利用白光光源(110)，两个半反半透镜组(111)，以及所述摄像机和显示器(112)构成监视光路，观察激光照射到样品中台面的位置。

4.根据权利要求1或2所述的一套测量电子自旋注入和滤波的显微测量系统，其特征在于，利用斩波器(109)和第二锁相放大器(105)，测量光照样品产生的光伏效应，对比直流光伏响应信号，保证测量过程的正确性。

5.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，利用可变磁场样品座(113)，测量光照样品光伏电压在不同磁场下的随直流电压的变化。