[发明专利]测量集成电路芯片间传输的数据信号的信号特性的方法和系统

摘要

在集成电路中接收的数据信号被耦合到接收器以及片上数据采集系统，该系统响应于测量请求，取数据信号的测量采样。使测量请求与产生捕捉信号和计数器复位信号的异步采样时钟信号同步。计数器对测量请求之间的采样时钟周期数进行测量。在收到测量请求时，捕捉信号触发作为捕捉数据的、计数器中的预设周期数以及测量采样在寄存器中的存储。计数器被同步复位，捕捉数据被发送到离片存储器。离片存储器存储任意数量的捕捉数据，且对于片上数据采集来说片上面积大大减小。离片分析被用于对于捕捉数据构建有效时基，以便进行信号分析。

主权项

1.一种用于测量片上数据信号的特性的方法，所述数据信号是使用具有离片数据存储和分析的片上数据采集电路对具有周期T的数据时钟做出响应地产生的，该方法包括以下步骤：a)在计数器中对异步采样时钟信号的周期进行计数；b)响应于所述异步采样时钟信号，产生所述片上数据信号的数字化采样；c)响应于测量请求，产生与所述采样时钟信号的第一跳变同步的捕捉信号；d)响应于所述捕捉信号，在寄存器中捕捉所述计数器的当前计数值以及所述片上数据信号的所述数字化采样；e)响应于与所述采样时钟信号第一跳变后的采样时钟信号第二跳变同步的复位脉冲，复位所述计数器；f)响应于所述捕捉信号，在离片存储器中存储所述寄存器的所述当前计数器值以及所述片上数据信号的当前数字化采样；以及g)重复步骤a)到f)预定数N次。