[发明专利]测量集成电路芯片间传输的数据信号的信号特性的方法和系统

权利要求书

1.一种用于测量片上数据信号的特性的方法，所述数据信号是使用具有离片数据存储和分析的片上数据采集电路对具有周期T的数据时钟做出响应地产生的，该方法包括以下步骤：

a)在计数器中对异步采样时钟信号的周期进行计数；

b)响应于所述异步采样时钟信号，产生所述片上数据信号的数字化采样；

c)响应于测量请求，产生与所述采样时钟信号的第一跳变同步的捕捉信号；

d)响应于所述捕捉信号，在寄存器中捕捉所述计数器的当前计数值以及所述片上数据信号的所述数字化采样；

e)响应于与所述采样时钟信号第一跳变后的采样时钟信号第二跳变同步的复位脉冲，复位所述计数器；

f)响应于所述捕捉信号，在离片存储器中存储所述寄存器的所述当前计数器值以及所述片上数据信号的当前数字化采样；以及

g)重复步骤a)到f)预定数N次。

2.根据权利要求1的方法，其中，所述测量请求与所述采样时钟信号异步地发生。

3.根据权利要求2的方法，其中，测量请求之间的采样时钟信号的周期数不是均匀的。

4.根据权利要求1的方法，其还包含这样的步骤：配置一测量向量，该测量向量包含存储自所述寄存器的数字化采样的序列以及各自与所述数字化采样的对应一个相关联的计数器值的序列。

5.根据权利要求4的方法，其包含这样的步骤：

1)对于所述采样时钟信号的周期(TS)产生推定值；

2)将离片存储的计数器值序列乘以对于所述采样时钟信号周期的推定值，产生作为推定时基的时间值序列；

3)对于所述推定时基的各项计算模T；

4)通过对基于所述推定时基被定位在所述数据时钟周期内的所述数字化采样的统计参数进行分析，确定所述推定时基的准确度；以及

5)重复步骤1)到4)，直到所述统计参数小于预定最小值。

6.根据权利要求5的方法，其中，基于所述推定时基，将所述数字化采样定位在所述数据时钟的周期内，产生所述片上数据信号的可见图。

7.根据权利要求6的方法，其中，所述统计参数是所述片上数据信号可见图的跳变的定时抖动。

8.一种用于确定片上数据信号的特性的系统，该数据信号是对具有周期T的数据时钟做出响应地产生的、且在集成电路(IC)芯片中被接收，该系统包含：

数字化电路，其用于产生响应于采样时钟信号的第一跳变地被数字化的所述片上数据信号的数字化采样；

计数器，其用于产生在所述IC芯片上所接收的连续测量请求之间发生的所述采样时钟信号周期发生数的计数；

寄存器，其用于响应于捕捉信号，捕捉所述计数器的计数以及所述数字化采样的当前值；以及

同步电路，其响应于所述测量请求中的一个以及所述测量请求后的采样时钟信号第一跳变，产生所述捕捉信号，并响应于所述捕捉信号以及紧接在所述采样时钟信号第一跳变后的采样时钟信号第二跳变，产生计数器复位信号。

9.根据权利要求8的系统，其还包含离片存储器，该存储器用于在每个测量请求后做出响应地存储所述捕捉数据。

10.根据权利要求8的系统，其中，所述测量请求与所述采样时钟信号异步地发生。

11.根据权利要求10的系统，其中，测量请求之间的所述采样时钟信号的周期数不是均匀的。

12.根据权利要求8的系统，其还包含：

产生对于采样时钟信号周期(TS)的推定值的电路；

用于将离片存储的计数器值序列乘以对于采样时钟信号周期的推定值以产生作为推定时基的时间值序列的电路；

用于对于所述推定时基的各项计算模T的电路；以及

用于通过分析基于所述推定时基被定位在所述数据时钟的周期内的数字化采样的统计参数来确定所述推定时基的准确度的电路。

13.根据权利要求12的系统，其中，基于所述推定时基，所述数字化采样被定位在所述数据时钟的周期内，以产生所述片上数据信号的可见图。

14.根据权利要求13的系统，其中，所述统计参数为所述片上数据信号可见图的跳变的定时抖动。