[发明专利]X射线分析装置

摘要

提供一种X射线分析装置，通过将测量种类的选择和光学部件的交换作业建立关联且用绘图将应当交换的光学部件的信息显示在画面上，而使测量准备作业变得容易。按照与X射线分析装置的测量准备作业关联的方式，在选择画面中，从多个测量种类中选择操作员所希望的测量种类，即可根据其测量种类，将应安装的光学部件及应卸下的光学部件的信息利用绘图显示在显示装置的画面上。操作员观察该作业指示，执行从X射线分析装置的光学系统卸下光学部件或者安装光学部件的作业。在利用绘图进行显示的情形中含有：图示应交换的光学部件(16、18)在光学系统上的位置；利用绘图记号(69)显示安装作业和卸下作业的区别；和显示光学部件的识别标记(70、72)。

主权项

1.一种X射线分析装置，具备：装置主体，包括用于对样品进行X射线分析的光学系统；显示装置，将所述装置主体相关的信息显示在画面上；选择画面显示部件，将可从多个测量种类中选择出期望的测量种类的选择画面显示在所述显示装置上；测量种类取得部件，取得在所述选择画面中操作员所选择的测量种类；对应关系存储部件，针对所述多个测量种类，存储有测量种类和该测量种类所应使用的光学部件之间的对应关系；传感器，对安装于所述装置主体的光学部件的种类进行识别检测；和作业指示部件，针对由所述测量种类取得部件所取得的测量种类，基于存储在所述对应关系存储部件中的所述对应关系，取得与该测量种类对应的光学部件的种类，将该所取得的光学部件的种类和由所述传感器所检测出的光学部件的种类进行比较，对于不一致的光学部件，将应安装于所述装置主体的光学部件及应从所述装置主体卸下的光学部件的至少一方的信息利用绘图显示在所述显示装置上。